Gebraucht HITACHI H-7000 #293768460 zu verkaufen

ID: 293768460
Transmission Electron Microscope (TEM).
HITACHI H-7000 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein leistungsstarkes und vielseitiges Gerät, das es Anwendern ermöglicht, Proben mit hohen Vergrößerungen und Auflösungen zu betrachten. H-7000 ist in der Lage, Bilder mit einer Vergrößerung von 500.000 x und einer Auflösung von 0,53 µm zu erzeugen, zusätzlich zur Bereitstellung von 3D-Rekonstruktionsausgängen mit einer maximalen Tiefe von 256mm. Mit einer hohen Auflösung und einer Vielzahl von Funktionen ist HITACHI H-7000 ein wertvolles Instrument für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen. H-7000 verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, die es ideal für eine detaillierte Probenanalyse machen. Es ist mit einer 5-Position-Mehrpositionsstufe ausgestattet, die ein schnelles Umschalten zwischen verschiedenen Betrachtungswinkeln ermöglicht, während seine 3-Mode-motorische Probenausrichtungsfunktion eine genaue Probenpositionierung gewährleistet. Darüber hinaus ist HITACHI H-7000 in der Lage, sowohl Hellfeld- als auch Dunkelfeldbilder sowie mehrere Farbkombinationen für einen verbesserten Kontrast zu erzeugen. H-7000 ist vielseitig einsetzbar und kann verschiedene Arten von Atomarten auf der Oberfläche der Probe nachweisen. Ein automatisches Abtastsystem mit weitem Strahlablenkwinkel ermöglicht auch eine 3D-Abbildung der Probenmorphologie. Für zusätzliche Benutzerfreundlichkeit verfügt HITACHI H-7000 über eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der Benutzer die Betriebsparameter mit minimalem Aufwand anpassen können. Der Scan-/Retrace-Geschwindigkeitswähler ermöglicht es dem Anwender auch, schnell zwischen verschiedenen Scangeschwindigkeiten zu wechseln, um die Effizienz zu erhöhen. H-7000 ist auch mit einer Vielzahl von Zubehör ausgestattet, um seine Leistung zu erhöhen. Der EDX (Energy Dispersive X-ray) -Aufsatz kann verwendet werden, um die Elementverteilung auf der Oberfläche der Probe zu identifizieren, während die elektronische Aufteilungsfunktion eine automatische Auflösung überlappender Bilder ermöglicht, um eine klare Analyse zu gewährleisten. Zusätzlich kann auf dem SEM ein Array-Detektor zur verbesserten Bilderfassung sowie ein In-Objektiv-Detektor zur Gewinnung höherauflösender Bilder installiert werden. Insgesamt ist HITACHI H-7000 ein ideales Instrument zur Analyse von Proben im Nanobereich. Seine hohe Auflösung, große Schärfentiefe und eine breite Palette von Funktionen machen es ideal für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen. Das benutzerfreundliche Design und die intuitive Benutzeroberfläche sorgen zudem dafür, dass Anwender schnell sicher werden können, das Gerät für ihre Probenanalyse zu nutzen. H-7000 ist ein unschätzbares Werkzeug für Forscher, die einen besseren Einblick in die mikroskopische Welt erhalten möchten.
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