Gebraucht HITACHI H-7600 #9096278 zu verkaufen

HITACHI H-7600 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Bildgebung, chemische Zusammensetzungsanalyse und Präzisionsmaterialanalyse. Es verfügt über eine eigenständige Rasterelektronenausrüstung und mehrere Analysemodule. Dieses Laborgerät bietet den höchsten Standard an analytischer Leistung, Zuverlässigkeit und benutzerfreundlichen Funktionen, um seinen Betrieb zu erleichtern. Das leistungsstarke H-7600 Rasterelektronenmikroskop verfügt über ein modernes energiedispersives Röntgenspektrometer (EDS) -Modul, eine fokussierte Ionenstrahlsäule und eine Auflösung im B-Modus (Mikron-Level). Dieses maschinell/elektrische System bietet unübertroffene bildgebende und hochgenaue Analysefunktionen für eine breite Palette von Materialien. Die bildgebende Einheit von HITACHI H-7600 verfügt über ein proprietäres MAXG-Detektordesign und ein Gemini-Säulenobjektiv, das eine Vielzahl von bildgebenden Konfigurationen ermöglicht. Seine bildgebende Maschine bietet sowohl High-End-Leistung und Vielseitigkeit. Die Hellfeld- und Backscatter-Detektoren von H-7600 bieten auch hochauflösende Bilder von Materialien, die so dünn wie 1 µm sind. Ein nanofähiger Steckplatz wurde dem Werkzeug hinzugefügt, um eine Niederspannungs-Abbildung von Nanoobjekten zu ermöglichen. Das EDS-Asset von HITACHI H-7600 bietet eine breite Palette von Elementaranalysefunktionen. Es ist mit einem energiedispersiven Röntgenspektrometer ausgestattet, das einen analytischen Bereich von bis zu 10 keV, einen lithiumgetrockneten Siliziumdetektor und eine Peltier-gekühlte Vakuumkammer aufweist. H-7600 verfügt auch über ein EDS-Analysemodell mit einer Vielzahl von Erkennungsgrenzen und Auflösungen, die Kompatibilität mit einer Vielzahl von Proben und Anwendungen bieten. HITACHI H-7600 verfügt zudem über eine fokussierte Ionenstrahlsäule, die mit einem hochauflösenden CCD-Detektor ausgestattet ist. Diese Spalte soll ein genaues Bild von Materialquerschnitten im Nanometermaßstab liefern. Es wird auch verwendet, um hochauflösende Bilder von Linienkantenprofilen oder Nanomustern zu erstellen. H-7600 Rasterelektronenmikroskop ist ein unschätzbares Werkzeug für Materialforscher und andere wissenschaftliche und industrielle Anwendungen. Seine fortschrittlichen analytischen und bildgebenden Fähigkeiten haben es zu einem branchenführenden Instrument für eine breite Palette von Anwendungen gemacht, wie Fehleranalyse und Halbleitercharakterisierung.