Gebraucht HITACHI HD-2300 #293830390 zu verkaufen

HITACHI HD-2300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, hochauflösende bildgebende und analytische Fähigkeiten für eine breite Palette von Proben bereitzustellen. Es verfügt über eine breite Palette von Merkmalen, darunter mehrere Abbildungsmodi, eine kippbare Probenstufe, einen EDX-Detektor und die Fähigkeit, sekundäre und rückgestreute Elektronensignale zu messen. Der primäre Bildgebungsmodus von HITACHI HD 2300 ist der Scanning Electron Beam (SEB) Modus. Dieser Modus ist in der Lage, hochauflösende Bilder von Proben mit Vergrößerungen im Bereich von 5x bis 1.000.000x bereitzustellen. Der SEB-Modus ist auch in der Lage, sekundäre Elektronenbilder sowie rückgestreute Elektronenbilder zu erhalten. HD-2300 enthält auch eine motorisierte X-Y-Probe Neigungsstufe. Mit dieser Stufe können Proben bis zu 360 Grad geneigt werden, um bildgebende Daten in situ besser zu erfassen. Diese kippbare Bühne bietet auch die Möglichkeit, Stage Angle SEM (SA-SEM) Bildgebung zu automatisieren. Ein weiteres Hauptmerkmal von HD 2300 ist das Energy Dispersive Röntgenspektrometer (EDX). Dieses Spektrometer ermöglicht eine qualitative und quantitative Elementaranalyse von Proben im Mikroskop bis zu Tiefen von bis zu mehr als 10 Mikrometern. Es ist in der Lage, mehr als 68 Elemente von Be bis U zu messen. HITACHI HD-2300 umfasst auch die Fähigkeit, sekundäre Elektronensignale (SE) sowie rückgestreute Elektronensignale (BSE) zu messen. Diese Signale bieten bildgebende Funktionen, die bestimmte Strukturen und Materialtypen identifizieren können. Der Sekundärelektronendetektor (SED) und der Rückstreuelektronendetektor (BED) liefern zusätzliche Informationen über die Zusammensetzung der Probe und ihre Strukturen. Zusammenfassend ist HITACHI HD 2300 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das bildgebende und analytische Funktionen bietet. Es umfasst den SEB-Bildgebungsmodus, die motorisierte X-Y-Proben-Neigungsstufe, das EDX-Spektrometer und die Fähigkeit, sowohl SE- als auch BSE-Signale zu messen. All diese kombinierten Merkmale machen HD-2300 zu einem leistungsstarken Werkzeug zur Mustercharakterisierung.