Gebraucht HITACHI HD-2300 #9281980 zu verkaufen

HITACHI HD-2300 ist ein umfassendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das den Anforderungen fortschrittlicher Anwendungen in der Materialanalyse und Prozesssteuerung gerecht wird. Es bietet hochauflösende Bildgebung, hochauflösende Elementaranalyse, präzise Probenbewegungen mit niedrigem Wärmeausdehnungskoeffizienten und eine neue Hochgeschwindigkeits-Analyseausrüstung für schnelle bildgebende und kompositorische Analysen. HITACHI HD 2300 wird mit einer hohen Leistungsfeldemissionselektronpistole (FEG) mit einer Hochspannungsstromversorgung und einem fortgeschrittenen System des Hochvakuums (HV) ausgestattet. Das FEG bietet aufgrund seiner höheren räumlichen Auflösung und der Fähigkeit, dünnere Proben abzubilden, eine verbesserte Bildgebungsleistung. Die HV-Einheit unterstützt Hochvakuumbetrieb bis 1,3 × 10-3 Pa, mit einer stabilen Detektionsempfindlichkeit. Darüber hinaus verfügt HD-2300 über zusätzliche Komponenten wie eine programmierbare Probenstufe für einstellbare Höhe und Neigung, einen Low-Background-Detektor und einen Echtzeit-Partikelmonitor. Für die Bildgebung bietet HD 2300 Low Contrast Imaging (LCI) und Secondary Electron Imaging (SEI). LCI hat Empfindlichkeit gegenüber kleinen Partikelunterschieden; dies bedeutet, dass es Proben mit signifikanten Unterschieden in der Partikelzusammensetzung abbilden kann, sowie eine Detaillierung der lateralen Verteilung von Elementen durchführen kann. Darüber hinaus ist SEI ein nützliches bildgebendes Werkzeug für nichtleitende Proben und bietet eine hervorragende Bildqualität. HITACHI HD-2300 verfügt über eine einzigartige automatisierte Analysemaschine, die eine schnelle und genaue kompositorische Analyse der Proben ermöglicht. Dieses Tool ist mit elementarer Röntgenanalyse ausgestattet, einschließlich sekundärer Elektronenenergie-Spektroskopie (ISS), Pulslawinenzähler-Scanning (PACS) Röntgenmapping und einer automatisierten Partikelgrößenmesseinrichtung. HITACHI HD 2300 kann sowohl die selektive Verteilung von Elementen in der zweidimensionalen Ebene als auch die dreidimensionale Anordnung analysieren. Um präzise Probenbewegungen zu ermöglichen, bietet HD-2300 auch eine hochpräzise Feinstufe. Diese Stufe ist mit einem Musterstufenschieber für Großserienbewegungen ausgestattet. Der Shifter bietet einen hohen Wärmeausdehnungskoeffizienten und eignet sich somit ideal für Proben, die wiederholt gescannt werden müssen. HD 2300 enthält auch ein hochpräzises Messmodell, das eine genaue Positionierung des Objekts ermöglicht. HITACHI HD-2300 kombiniert fortschrittliche Funktionen, langlebige Komponenten und eine intuitive Benutzeroberfläche. Dank dieser Aspekte ist es ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug zum Extrahieren von Informationen aus einer Vielzahl von Proben. Darüber hinaus bietet es durch seine verbesserten Bildverarbeitungsfunktionen ein komfortables Bilddatenmanagement und eine präzise Analyse.