Gebraucht HITACHI I6300 #9236029 zu verkaufen

Das HITACHI I6300 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist eine leistungsstarke Ausrüstung, die präzise bildgebende und analytische Funktionen für eine Vielzahl von Anwendungen bietet. Das Mikroskop verwendet einen hochauflösenden E-Strahl, um ein 3D-Bild der Probenoberfläche zu erzeugen, mit Auflösungen für die Bildgebung bis zu 1 nm. HITACHI I 6300 verfügt über ein umfassendes Spektrum an analytischen Merkmalen, wie Sekundärelektronenbildgebung (SEI), rückgestreute Elektronenbildgebung (BSEI), Röntgenelementmapping (EDX), energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) und Wellenlängen-dispersive. Das Mikroskop verfügt zudem über ein Dual-Beam-System, mit dem sowohl SEM als auch variable Druckrasterelektronenmikroskopische Bildgebung (VPSEM) gleichzeitig erfolgen können. I-6300 verfügt über eine Advanced Beam Technology (ABT) -Einheit, die es ermöglicht, andere SEMs hinsichtlich Stabilität und Auflösung zu übertreffen. Die ABT-Maschine verbindet Scangeschwindigkeiten und die Anzahl der Frames, um Signal-Rausch-Verhältnisse zu optimieren. Das ABT-Tool verbessert auch das Signal-zu-Zeit-Verhältnis und ermöglicht eine schnellere Datenerfassung. Das Mikroskop verwendet einen neuen hochauflösenden rauscharmen Detektor, der Empfindlichkeit und Kontrast verbessert. Der Detektor besteht aus einem feinen Netz über einem kompakten Auslesegerät, das eine hochauflösende Bildgebung ermöglicht. Das Mikroskop verfügt auch über eine erweiterte integrierte Röntgenquelle, die eine genaue und wiederholbare Röntgenzuordnung und EDX-Analyse innerhalb eines einzigen Modells ermöglicht. Die Probenkammer von HITACHI I-6300 ist auf optimale Betriebsbedingungen ausgelegt. Es verfügt über eine spezielle Umgebung, die eine breite Palette von Proben verarbeiten kann, wie Vakuum und Niederdruckbetrieb, sowie große Probenhalter. Das Vakuumniveau ist mit einem speziellen Steuerventil und automatisierten Gasmanagementgeräten einstellbar. I6300 kann für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen verwendet werden, einschließlich biologischer Proben, Materialwissenschaft, Halbleiterwaferanalyse und Nanostrukturcharakterisierung. Mit seinen hochauflösenden Bildgebungsfähigkeiten kann das Mikroskop detaillierte Bilder auf verschiedenen Probenoberflächen erzeugen. Es ist auch mit speziellen automatisierten Bildverarbeitungsmodi ausgestattet und eignet sich somit für verschiedene automatisierte Aufgaben wie Routineüberwachung oder Fehlererkennung.