Gebraucht HITACHI IS 3200SE #293672029 zu verkaufen

HITACHI IS 3200SE Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine SEM-Ausrüstung der fünften Generation, die für die Analyse ultrakleiner Proben entwickelt wurde und eine hochauflösende Bildgebung mit überlegener Strahlstabilität und Integrität über einen weiten Bereich von Druck- und Temperaturbedingungen ermöglicht. IS 3200SE SEM bietet beispiellose Automatisierung, Empfindlichkeit, Vergrößerung, Auflösung und Klarheit. Modernste Deflektorkonstruktion und hochrangige Systemtechnologien garantieren mehr Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit sowie eine verbesserte Bildgebungsgenauigkeit. HITACHI IS 3200SE bietet eine Vielzahl von Funktionen wie Probengröße und Temperaturkompatibilität, hohe Beschleunigungsspannung, fortschrittliche Halbleiterbildgebung und Hochtreue-Bildgebung. Das Gerät umfasst auch erweiterte Bildanalysefunktionen und vollautomatische Probenstufen, die sicherstellen, dass alle Messungen genau und präzise erhalten werden. Die Hochgeschwindigkeits-Scan- und Hochauflösungs-Bildgebungstechnologie von IS 3200SE ermöglicht es Benutzern, Submikron-Strukturen mit höchster Präzision aufzulösen und zu analysieren. Die Maschine ist mit einer hochpräzisen Stufe ausgestattet, die minimale Vibrationen verursacht und die Stabilität der Bilderfassung gewährleistet. Mit seiner stabilen Leistung eignet sich HITACHI IS 3200SE ideal für Anwendungen in den Bereichen Elektronenbeugung, Nanofabrikation und Nanoautomation. Weiterhin weist IS 3200SE eine elektrisch leitfähige Probenstufe auf, die hochleitfähige, nichtmagnetische Proben wie Halbleiterscheiben aufnehmen kann. Die Stufe ermöglicht auch eine stabile Bildgebung und Bühnenabtastung, um genaue Messungen zu erhalten. HITACHI IS 3200SE wurde entwickelt, um Anwendern maximale Flexibilität in Bezug auf Mustergüte und -größe zu bieten. Es ist mit einem automatisierten Probenaustauschwerkzeug sowie einer breiten Palette von Probenhaltern und Zubehör ausgestattet, um eine Vielzahl von Probengrößen und -typen unterzubringen. Schließlich ermöglicht IS 3200SE den Anwendern eine detaillierte und umfassende Rasterelektronenmikroskopie. Das Kapital ist sehr effektiv in Anwendungen wie Metall-Oxid-Halbleiter (MOS) Bauelement Herstellung und Materialanalyse. Sein einzigartiges Design ermöglicht es Benutzern auch, Bildgebungsparameter an ihre spezifischen Bedürfnisse anzupassen. Insgesamt bietet HITACHI IS 3200SE Scanning Electron Microscope die neuesten technologischen Fortschritte in der SEM-Analyse, so dass Anwender beispiellose Bildgenauigkeit und Flexibilität erzielen können. Es ist ideal für hochauflösende Bildgebung, Automatisierung komplexer Messungen, Elektronenbeugung und Nanoautomationsanwendungen.