Gebraucht HITACHI NB5000 #293779250 zu verkaufen

ID: 293779250
Weinlese: 2018
Dual beam Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) Resolution: SEM: 1.0 nm at 15 kV FIB: 5 nm at 40 kV FIB Column: Ga Ion source: >50 nA 2-Stage electro static lens system Octopole electro static lens system Pattern generator system: 4K x 4K SEM Column: Maximum beam current: >30 nA 3-Stage electro magnetic lens reduction system Electro static blanking system SE Power supply Image memory: 2560 x 1920 Vacuum system: Turbo molecular pump Dry pump Ion source chamber Electron gun (2) Buffer tanks Micro-sampling system: 3-Axis motor drive system X Range: 1 mm Y Range: 2 mm Z Range: 2.5 mm Chamber scope: LCD Monitor, 7" Stand IR Camera Power cable AC / DC Adaptor Air compressor N2 Gas leak system Multi-stage control panel Console control unit Power supply unit AC Power distribution Transformer Laser sample height adjust tool Manual sample height adjust tool Interlock function PC Processor: INTEL i7 Flat panel LCD Monitor, 22" Mouse Keyboard Control panel RAM: 16 GB 64-Bit Hard Disk Drive (HDD): 500 GB Does not include EDS Operating system: Windows 7 2018 vintage.
Titel: Einführung in HITACHI NB5000 Scanning Electron Microscope NB5000 ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine hochauflösenden bildgebenden Fähigkeiten, benutzerfreundliche Schnittstelle und Vielseitigkeit in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen bekannt ist. Dieses fortschrittliche Instrument stellt den Höhepunkt der bildgebenden Technologie im Bereich der Elektronenmikroskopie dar und bietet Forschern und Fachleuten die Möglichkeit, sich mit unvergleichlicher Klarheit und Präzision in die komplexen Details von nanoskaligen Strukturen einzutauchen. Hauptmerkmale und Spezifikationen: Das Herzstück von HITACHI NB5000 ist sein elektronenoptisches System, das dem Mikroskop eine ultrahochauflösende Bildgebung mit beeindruckenden Vergrößerungsmöglichkeiten ermöglicht. Das Gerät ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) als Elektronenquelle ausgestattet, die die Erzeugung eines hochfokussierten Elektronenstrahls ermöglicht, der für die Abbildung von Proben im Nanometermaßstab unerlässlich ist. NB5000 verfügt über eine maximale Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV, so dass Benutzer auch kleinste Details und Oberflächenmerkmale einer breiten Palette von Proben beobachten können. Das Mikroskop verfügt über eine Vielzahl von Detektoren, darunter Sekundärelektronen (SE), rückgestreute Elektronen (BSE) und energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) -Detektoren, die Benutzern mehrere Bildgebungs- und Analysemöglichkeiten für ihre Forschungsanforderungen bieten. Der SE-Detektor wird häufig für hochauflösende Oberflächenbilder verwendet, während der BSE-Detektor Informationen über Probenzusammensetzung und Topographie liefert. Die Integration von EDS-Fähigkeiten ermöglicht die elementare Analyse von Proben und macht HITACHI NB5000 ein vielseitiges Werkzeug für die bildgebende und chemische Charakterisierung. NB5000 ist mit fortschrittlichen Strahlsteuerungssystemen wie Strahlverzögerungsmodus und automatisierten Strahleinstellfunktionen ausgestattet, die optimale Abbildungsbedingungen und Wiederholbarkeit für Benutzer gewährleisten. Das Mikroskop verfügt auch über eine motorisierte Bühne mit hochpräzisen Positionierungsmöglichkeiten, so dass es einfach ist, bestimmte interessante Bereiche innerhalb einer Probe zu navigieren und zu analysieren. Darüber hinaus verfügt HITACHI NB5000 über eine intuitive Benutzeroberfläche und ein Softwarepaket, das eine nahtlose Bedienung und Datenanalyse ermöglicht und den Workflow für Forscher und Techniker vereinfacht. Anwendungen und Wirkung: NB5000 findet umfassenden Einsatz unter anderem in den Bereichen Materialwissenschaft, Life Sciences, Geologie und Elektronik. In der Materialwissenschaft wird das Mikroskop zur Untersuchung der Mikrostruktur und Morphologie verschiedener Materialien eingesetzt, die bei der Charakterisierung von Defekten, Korngrenzen und Phasenerkennung unterstützt. In den Lebenswissenschaften ermöglicht HITACHI NB5000 es Forschern, biologische Proben auf zellulärer und subzellulärer Ebene zu erforschen und die komplexen Strukturen von Proteinen, Zellen und Geweben mit außergewöhnlicher Klarheit zu entschlüsseln. Auf dem Gebiet der Geologie wird NB5000 genutzt, um mineralische Zusammensetzungen, Porenstrukturen und sedimentäre Merkmale zu untersuchen und wertvolle Einblicke in die geologischen Prozesse und die Geschichte der Erde zu geben. In der Elektronikindustrie spielt das Mikroskop eine entscheidende Rolle bei der Fehleranalyse, Prozessoptimierung und Qualitätskontrolle von Halbleiterbauelementen und Mikroelektronik-Bauelementen. Die hochauflösenden bildgebenden und analytischen Fähigkeiten von HITACHI NB5000 haben Forschung und Entwicklung in diesen vielfältigen Bereichen revolutioniert und den Weg für neue Entdeckungen und Innovationen geebnet. Abschließend steht NB5000 Rasterelektronenmikroskop als Höhepunkt der bildgebenden Technologie und bietet Forschern und Fachleuten ein beispielloses Werkzeug, um die nanoskalige Welt mit Präzision und Klarheit zu erkunden. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen, hochauflösenden Bildgebungsfunktionen und vielseitigen Anwendungen ermöglicht HITACHI NB5000 Anwendern, die Grenzen der wissenschaftlichen Entdeckung und Innovation über verschiedene Disziplinen hinweg zu verschieben, was es zu einem unverzichtbaren Kapital im Bereich der Elektronenmikroskopie macht.
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