Gebraucht HITACHI NE-4000 #9260762 zu verkaufen

HITACHI NE-4000
ID: 9260762
Weinlese: 2011
Electron Beam Absorbed Current (EBAC) characterization system Driving method: Piezoelectric Fine stroke range: 5 µm (X,Y) Coarse stroke range: 6 mm (X,Y) Specimen stage / Base stage Specimen size: 25 mm × 25 mm × 1 mm Thick or less Traverse position: Measurement / Specimen exchange position Specimen exchange: Air-locked exchange chamber Prober navigation: Stage traverse to probe position Measurement position memory Probe coarse adjustment: CCD Image display: Image display from lateral direction Electron optics: Electron gun: Cold field emission electron source Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV Resolution: 15 nm (at 2 kV, WD: 15 mm) Image shift: ±150 µm (at 2 kV, WD: 15 mm) EBAC Amplifier / Image display: Amplifier type: Current amplifier / Differential amplifier Image display: SEM / EBAC (Single / Parallel / Overlay) Image processing: Black and white reversal display Color display Brightness adjustment Slow scan integration Belt scan Utility: Room temperature: 15°C - 25°C Humidity: 60% RH or Less Grounding: 100Ω or Less Power supply: AC 100 V, ±10% 5 kVA (M5 Crimp terminal) 2011 vintage.
HITACHI NE-4000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für den Einsatz in Forschung und industrieller Analyse. Die Ausrüstung ist mit einem digitalen Tomographen ausgestattet, der ausgezeichnete Vergrößerungsgrade und eine Vielzahl von bildgebenden Funktionen bietet. Mit den hochauflösenden Scanfunktionen und einem integrierten Bildanalysesystem ist NE-4000 in der Lage, Mikrostrukturen mit einer Auflösung von bis zu 0,35 nm präzise abzubilden. Das Mikroskop verfügt über eine speziell entwickelte Objektivlinse, die die Effektivität und Leistung der Bildgebung maximiert. Für den Elektronenstrahl ist eine ultrahochfrequente Stromversorgung vorgesehen, um Stabilität und Reproduzierbarkeit zu gewährleisten. Weitere Merkmale des Mikroskops sind eine Probenlackentladungsquelle, eine Probenkammer mit einer maximalen Temperatur von 540 ° C, ein In-Column-Strahlblanker und eine Elektronenkanonen-Steuereinheit. Außerdem verfügt HITACHI NE-4000 über eine vollautomatische Bearbeitungsmaschine, mit der die Proben zur Analyse montiert und eingeführt werden können. Dieses Werkzeug ermöglicht es dem Anwender, hochauflösende Scans der Probe mit präziser Kontrolle über die Position und Vergrößerung der Probe vorzunehmen. Mit dem automatisierten Asset kann das Mikroskop für eine Reihe von Anwendungen wie Mapping, 3D-Bildgebung, korrelative Mikroskopie und vieles mehr eingesetzt werden. Die hochpräzise Bildgebungsleistung des Modells wird durch den Einsatz einer CCD-Kameraausrüstung, die direkt an das Mikroskop angeschlossen ist, weiter verbessert. Dieses System ist in der Lage, digitale Bilder von bis zu 25 Megapixeln mit beeindruckender Detailtreue zu erfassen. Die Bilder sind auch einfach zu verarbeiten, da das Gerät mit einer Vielzahl von Softwarepaketen für Bildanalyse und Manipulation kompatibel ist. NE-4000 Maschine ist auch mit einer Reihe von Signalverarbeitungs-, Bildverarbeitungs- und Messwerkzeugen wie einer Hochgeschwindigkeits-Scanstufe, einer intelligenten Bildverarbeitung und einer hochauflösenden digitalen Bildgebung ausgestattet, um die Bildgebungsleistung zu verbessern. Darüber hinaus ist das Mikroskop auch in der Lage, 3D-Bilder in Echtzeit anzuzeigen, was das Werkzeug besonders für industrielle Inspektions- und Forschungslaboranwendungen geeignet macht. Insgesamt ist HITACHI NE-4000 die ideale Wahl für die hochauflösende Abbildung von Mikrostrukturen auf Nanometerebene. Mit seinen fortschrittlichen bildgebenden Funktionen und der automatisierten Handhabung von Proben ist es in der Lage, präzise Bilder mit hervorragenden Detail- und Genauigkeitsstufen zu liefern. Die Anlage wurde so konzipiert, dass sie benutzerfreundlich und einfach zu bedienen ist, was sie zu einer guten Wahl sowohl für Forschung als auch für industrielle Anwendungen macht.
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