Gebraucht HITACHI / REGULUS 8100 #9353290 zu verkaufen

HITACHI/REGULUS 8100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine breite Palette von Merkmalen für die Probenanalyse bietet. Das Mikroskop ist mit einem einzigartigen Design ausgestattet, um eine hervorragende Bildqualität und hochpräzise Bildgebung zu bieten. Seine erweiterten Funktionen umfassen hochauflösende Bildgebung, hohe Detailtreue für Konzeptbildgebung und eine große Schärfentiefe, damit Benutzer die Struktur von Proben sehr detailliert verstehen und untersuchen können. HITACHI 8100 ist in der Lage, eine breite Palette von Probengrößen und -formen mit seinen fortschrittlichen Infrarot (IR) - und UV-Strahlungsdetektoren abzubilden. Sein Hochgeschwindigkeits-elektrostatisches Ablenk- und Fokusausrichtungssystem ist auch in der Lage, höhere Auflösungen sowohl in transparenten als auch in undurchsichtigen Materialien zu erzielen. Sein HEPA-Filter enthält eine optisch reine Vakuumkammer, um zu verhindern, dass unerwünschte Schadstoffpartikel die Probe beeinflussen. Das von REGULUS 8100 verwendete Detektorsystem verfügt über eine hohe Empfindlichkeit basierend auf einem rückgestreuten Elektronendetektor (BSE), der scharfe und klare Bilder liefert. Die SEM-Detektion bietet eine hochauflösende Bildgebungsfähigkeit, mit der strukturelle Merkmale der Probe beobachtet werden können. Zusätzlich liefert ein EBSD-Detektor (Electron Backscatter Diffraction) eine qualitative Elementaranalyse. Die Vakuum-Betriebsumgebung des Mikroskops sorgt dafür, dass eine hochauflösende, kristalline und empfindliche Bildgebung erreicht wird. Diese Arbeitsumgebung bietet eine hohe Abbildungsqualität und ist mit einem schrägen Probenhalter gepaart, um Elektronenstrahländerungen aufgrund der Winkelbewegung der Probe zu reduzieren. 8100 Features SE Imaging (SEI) mit drei verschiedenen Zielen für verschiedene Probengrößen. SEI beinhaltet Elektronenstrahlabtastung, um eine für bildgebende Zwecke optimierte Strahlgröße anzubieten. Der Strahlscan hilft, durch die Probengeometrie und Oberflächentopographie verursachte TEM-Verzerrungen zu reduzieren. HITACHI/REGULUS 8100 bietet eine optionale Funktion zum Ausrichten und Greifen von intransparenten Mustern mit integriertem, mechanischem Antrieb. Der Benutzer kann das Laufwerk für Probengriff und Positionierung während der Durchführung von Bildaufgaben anpassen. Ein integriertes Softwaresystem ermöglicht es Benutzern, Schritte für automatisierte Probenoperationen und Messungen zu programmieren, wodurch das Mikroskop ideal für Wiederholungsstudien ist. Um eine verbesserte Probenbildgebung zu ermöglichen, bietet das Mikroskop auch Elektronenstrahlmuster-Fähigkeiten. Mit dieser Funktion können Benutzer präzise Ätzmuster definieren, um Proben für bildgebende Zwecke vorzubereiten. Darüber hinaus kann das Mikroskop auch in Verbindung mit der optionalen SEM-Software-Suite zur leistungssicheren Messung und Aufzeichnung von Verarbeitungsparametern eingesetzt werden. HITACHI 8100 ist ein modernes Rasterelektronenmikroskop, das Benutzerfreundlichkeit, zuverlässige und genaue Leistung und hervorragende Bildgebungsfunktionen bietet. Seine fortschrittlichen Funktionen, einschließlich hochauflösender Bildgebung, hoher Detailgenauigkeit für die Konzeptbildgebung, hochempfindlicher rückgestreuter Elektronendetektor, SE-Bildgebung und Elektronenstrahlmusterung, machen es zu einer idealen Wahl für Anwendungen wie materialwissenschaftliche Forschung und Gerätetechnik.