Gebraucht HITACHI Regulus 8230 #293586011 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 293586011
Weinlese: 2021
Scanning Electron Microscope (SEM)
Does not include EDX
2021 vintage.
HITACHI Regulus 8230 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das Anwendern unübertroffene Bilder einer Vielzahl von Probenoberflächen liefert. Das Mikroskop nutzt eine Feldemissionskanone (FEG) als Elektronenquelle und ist mit einer hohen numerischen Apertur, einer speziellen mehrachsigen Stufe und umfassenden Detektions-/Signalverarbeitungssystemen ausgestattet. Das FEG liefert einen Elektronenstrahl mit einer Beschleunigungsspannung von bis zu 30 kV und ermöglicht eine breite Palette von Abbildungsbedingungen, einschließlich Ultraschwachvakuum und niedrigen Strömen. Das Mikroskop ist mit einer hohen numerischen Apertur ausgestattet, die eine geringe sphärische Aberration und eine erhöhte Auflösung bei sehr kleinen Proben ermöglicht. Darüber hinaus ist HITACHI REGULUS8230 mit einer speziellen, großdimensionierten mehrachsigen Stufe (MATS) ausgestattet, die schnelle und präzise Probenverschiebungen und Kippbewegungen ermöglicht. Regulus 8230 verfügt über eine breite Palette von Detektionssystemen und Signalverarbeitungsfunktionen, mit denen Benutzer die durch das Mikroskop erzeugten hochwertigen Bilder manipulieren können. Der optionale Sekundärelektronendetektor liefert kontrastreiche, topographische Bilder mit eingebautem Strombegrenzer, so dass der Benutzer Ladungen und andere Artefakte vermeiden kann. Darüber hinaus ermöglicht der eingebaute EDX-Detektor die elementare Erkennung und die optionale Druckregelung die Abbildung unter Vakuumbedingungen. Insgesamt ist REGULUS8230 ein extrem fortschrittliches SEM, das hervorragende bildgebende Funktionen sowie eine breite Palette von Detektions- und Signalverarbeitungsfunktionen bietet. Seine FEG, hohe numerische Blende, mehrachsige Stufe und umfassende Signalverarbeitungsfunktionen machen HITACHI Regulus 8230 eine gute Wahl für Wissenschaftler, die sehr detaillierte Bilder einer Vielzahl von Proben suchen.
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