Gebraucht HITACHI Regulus 8230 #293593099 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 293593099
Weinlese: 2018
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
URH Cold
Computer controller
With 5-axis motorized stage
XY: 110 x 110 mm
SE Resolution: 0.7 nm, 15kV and 0.9 nm, 1 kV
Maximum magnification: 2,000,000x
Top filter function
Real time image processing function
Specimen exchanger airlock, 6"
Beam deceleration system
Keyboard
EDS With DBC and TCP/IP interface
Compressor and dry scroll pump
Chamber scope
CT-6020 Water circulator
Air protection specimen holder unit
Chamber
AZTEC Live standard microanalysis system
Ultim extreme, 4"
Resolution: Mn K-127 ev at 13000 CPS
HITACHI IM4000 Plus Ion milling system
With cooling unit
Temperature control unit
Mass flow gas controller
Cross-section holder
Cryo adaptor for AP holder
Flat ion milling unit
Does not included gas adaptor kit
2018 vintage.
HITACHI Regulus 8230 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges und anspruchsvolles bildgebendes Gerät, das es Forschern ermöglicht, die Struktur und Zusammensetzung einer Vielzahl von Proben zu beobachten und zu analysieren. Es kombiniert eine Elektronensäule, die eine Pistole zur Bestrahlung einer Probe mit Elektronen und ein System zur Detektion von Hintergrundelektronen enthält, mit einem ergonomischen Design und einer intuitiven Benutzeroberfläche. HITACHI REGULUS8230 nutzt die Vorteile einer Feldemissionsquelle, um eine hervorragende Auflösung von bis zu 3 nm zu erzielen, wodurch Proben auf einem höheren Detailniveau beobachtet und analysiert werden können. Es ist mit einer dreiachsigen Stufe ausgestattet, um eine präzise und flexible Positionierung und Manipulation von Proben zu ermöglichen, wodurch es für eine breite Palette von Materialien geeignet ist. Dank seines Hochvakuumbetriebs ermöglicht das SEM auch die Beobachtung von Materialien unter extrem niedrigen Vakuumbedingungen und ermöglicht so eine effektive Untersuchung flüchtiger Materialien. Regulus 8230 ist in der Lage, eine Reihe von Abbildungsmodi durchzuführen, einschließlich konventioneller heller Felder, rückgestreuter Elektronenbildgebung, Niedervakuumbildgebung und In-situ-Heizung und Kühlung. Es ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Bilddatenformaten zu erzeugen, wie SE, BSED, BSSD und EDX, sowie hochauflösende dreidimensionale Bilder. Darüber hinaus ermöglicht das SEM es Forschern, spektroskopische Informationen wie die Absorptionsränder verschiedener Elemente zu erfassen. Schließlich bietet REGULUS8230 ein umfangreiches Sortiment an Zubehör, darunter Probenhalter, Elektronendetektoren, Analysegeräte, Peripheriegeräte und mehr. So können Anwender das SEM auch für komplexe Analysen an ihre spezifischen bildgebenden Anforderungen anpassen. Darüber hinaus verfügt das SEM über ein Softwarepaket zur Steuerung des Instruments und zur Erfassung von Daten, das Forschern eine komplette analytische Lösung bietet.
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