Gebraucht HITACHI Regulus 8230 #293593099 zu verkaufen

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ID: 293593099
Weinlese: 2018
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) URH Cold Computer controller With 5-axis motorized stage XY: 110 x 110 mm SE Resolution: 0.7 nm, 15kV and 0.9 nm, 1 kV Maximum magnification: 2,000,000x Top filter function Real time image processing function Specimen exchanger airlock, 6" Beam deceleration system Keyboard EDS With DBC and TCP/IP interface Compressor and dry scroll pump Chamber scope CT-6020 Water circulator Air protection specimen holder unit Chamber AZTEC Live standard microanalysis system Ultim extreme, 4" Resolution: Mn K-127 ev at 13000 CPS HITACHI IM4000 Plus Ion milling system With cooling unit Temperature control unit Mass flow gas controller Cross-section holder Cryo adaptor for AP holder Flat ion milling unit Does not included gas adaptor kit 2018 vintage.
HITACHI Regulus 8230 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges und anspruchsvolles bildgebendes Gerät, das es Forschern ermöglicht, die Struktur und Zusammensetzung einer Vielzahl von Proben zu beobachten und zu analysieren. Es kombiniert eine Elektronensäule, die eine Pistole zur Bestrahlung einer Probe mit Elektronen und ein System zur Detektion von Hintergrundelektronen enthält, mit einem ergonomischen Design und einer intuitiven Benutzeroberfläche. HITACHI REGULUS8230 nutzt die Vorteile einer Feldemissionsquelle, um eine hervorragende Auflösung von bis zu 3 nm zu erzielen, wodurch Proben auf einem höheren Detailniveau beobachtet und analysiert werden können. Es ist mit einer dreiachsigen Stufe ausgestattet, um eine präzise und flexible Positionierung und Manipulation von Proben zu ermöglichen, wodurch es für eine breite Palette von Materialien geeignet ist. Dank seines Hochvakuumbetriebs ermöglicht das SEM auch die Beobachtung von Materialien unter extrem niedrigen Vakuumbedingungen und ermöglicht so eine effektive Untersuchung flüchtiger Materialien. Regulus 8230 ist in der Lage, eine Reihe von Abbildungsmodi durchzuführen, einschließlich konventioneller heller Felder, rückgestreuter Elektronenbildgebung, Niedervakuumbildgebung und In-situ-Heizung und Kühlung. Es ist auch in der Lage, eine Vielzahl von Bilddatenformaten zu erzeugen, wie SE, BSED, BSSD und EDX, sowie hochauflösende dreidimensionale Bilder. Darüber hinaus ermöglicht das SEM es Forschern, spektroskopische Informationen wie die Absorptionsränder verschiedener Elemente zu erfassen. Schließlich bietet REGULUS8230 ein umfangreiches Sortiment an Zubehör, darunter Probenhalter, Elektronendetektoren, Analysegeräte, Peripheriegeräte und mehr. So können Anwender das SEM auch für komplexe Analysen an ihre spezifischen bildgebenden Anforderungen anpassen. Darüber hinaus verfügt das SEM über ein Softwarepaket zur Steuerung des Instruments und zur Erfassung von Daten, das Forschern eine komplette analytische Lösung bietet.
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