Gebraucht HITACHI RS-4000 #9389791 zu verkaufen

HITACHI RS-4000 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop für wissenschaftliche und industrielle Anwendungen. HITACHI RS 4000 bietet die höchste verfügbare Auflösung und ist in der Lage, genaue und detaillierte Bilder der Probe auf einer Vielzahl von Skalen zu erzeugen. Diese fortschrittliche Mikroskopieeinrichtung verwendet eine Feldemissionselektronenkanone zur Erzeugung eines Rasterelektronenstrahls, der auf die Probe gerichtet ist und auf eine Vergrößerungsskala fokussiert werden kann. Da der Elektronenstrahl mit der Probe wechselwirkt, werden Sekundärelektronen freigesetzt, die Informationen liefern, die dann gesammelt, verarbeitet und als Bild dargestellt werden. RS-4000 ist mit einer Reihe von Merkmalen ausgestattet, die eine Vielzahl von Bildgebungsprozessen ermöglichen. Es ist in der Lage, sowohl SEI (Secondary Electron Imaging) als auch BSE (Backscattered Electron Imaging) -Funktionen zu verwenden, um detaillierte und genaue Bilder zu erhalten. Sein X-C-Modus, der mit einem schnell abtastenden Elektronenstrahl ausgestattet ist, erhöht die Auflösung und Tiefe der verfügbaren Bildgebung weiter. Darüber hinaus kann das System im Modus TEM (Transmission Electron Microscopy) eingesetzt werden, der eine Analyse sehr dünner Probenabschnitte bei hohen Vergrößerungen ermöglicht. Es bietet auch eine Vielzahl von Auflösungen im Bereich von 0.2nm - 30nm, je nach Art des Bildes erforderlich. Darüber hinaus ist RS 4000 mit einem digitalen Bildprozessor, einem großen Maß an Vergrößerungen (x50.000) und einer erweiterten Schärfentiefe ausgestattet, die während der Beobachtung in Echtzeit eingestellt werden kann, um sicherzustellen, dass der Fokus optimal für die Betrachtung ist. Schließlich ist HITACHI RS-4000 eine sehr zuverlässige Einheit, die in einer Vielzahl von Umgebungsbedingungen von -5C bis 60C arbeiten kann, mit einem Feuchtigkeitsbereich von 15% bis 70%. Es bietet auch einen verbesserten Ionenstrahl-Scan zur zerstörungsfreien Probenanalyse, der die Vielseitigkeit dieser High-End-SEM-Maschine weiter verbessert.