Gebraucht HITACHI RS7000-30 #113465 zu verkaufen

HITACHI RS7000-30 ist ein fortschrittliches analytisches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das den strengen Anforderungen heutiger Werkstoffwissenschaftler gerecht wird. Sein modernes Design und seine maßgeschneiderte Software bringen der Elektronenmikroskopie ein unvergleichliches Maß an Genauigkeit und Benutzerfreundlichkeit. RS7000-30 besteht aus einer Hochvakuumkammer, einer Elektronenquelle und einer Detektoranordnung, die alle in einem starren Edelstahlkörper untergebracht sind. Es wird von einem 200kW DC gepulsten Netzteil angetrieben, das mit bis zu 3600V und 40 mA betrieben werden kann. Dies bietet hervorragende Leistung sowohl für hochauflösende Bildgebung als auch für nanoskalige Oberflächenanalysen. Die hochauflösenden bildgebenden Funktionen von HITACHI RS7000-30 ermöglichen es, die Nanometergrößenmerkmale einzelner Partikel von der Oberfläche bis zum Innenraum mit einer erreichbaren Auflösung von 0,8 nm zu visualisieren. Dies macht es zu einem unschätzbaren Werkzeug zur Beobachtung, Charakterisierung und Analyse kleiner Partikel, struktureller Defekte und Oberflächeneigenschaften auf der Nanoskala. Für die Oberflächenanalyse ist RS7000-30 mit einem EDS-Detektor ausgestattet, der die Bestimmung der Zusammensetzung und der elementaren Zusammensetzung einer beliebigen Probe ermöglicht. Dies macht das Instrument ideal für die Charakterisierung der elementaren Make-up von kleinen Proben, so dass es in der Lage, sowohl schwierige als auch komplexe Aufgaben mit Genauigkeit, Präzision und Wiederholbarkeit zu bewältigen. HITACHI RS7000-30 verfügt auch über eine dedizierte Software, die Anwendern Datenanalyse, 3D-Imaging und Echtzeit-Automatisierung bietet. Auf diese Weise können Anwender Vorgänge wie wiederholtes Scannen und Partikel-/Fehlerzählung auf eine schnelle, vollautomatische Weise durchführen. Dies spart Zeit und bietet überlegene Genauigkeit und Flexibilität und ist ideal für Anwendungen mit hohem Durchsatz. Insgesamt ist RS7000-30 eine ausgezeichnete Wahl für die strengen Anforderungen von Materialwissenschaftlern. Dank seiner hervorragenden Leistung und Vielseitigkeit, kombiniert mit einem einfach zu bedienenden Softwaresystem, ist es ein zuverlässiges und leistungsstarkes Werkzeug für hochauflösende Bildgebung, Oberflächenanalyse und automatisierte Probencharakterisierung.