Gebraucht HITACHI RS7500-20 #113471 zu verkaufen

HITACHI RS7500-20
ID: 113471
Weinlese: 1997
tester 2 left, 2 right Software version 5.31 Controller labeler Loader / unloader conveyor: long Warehoused 1997 vintage.
HITACHI RS7500-20 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das fortschrittliche bildgebende Funktionen mit hoher Leistung und Zuverlässigkeit kombiniert. Dieses Instrument ist in der Lage, hochauflösende Bilder von Funktionen im Nanometermaßstab mit beispielloser Genauigkeit und Treue zu erzeugen. Das Elektronenmikroskop verwendet eine herkömmliche Schottky Field Emission Source (FES), um einen fokussierten Elektronenstrahl mit einer minimalen Strahlfleckgröße von weniger als 1 Nanometer zu erzeugen. Es ist mit einer elektromagnetischen Objektivlinse ausgestattet, die eine maximale Vergrößerung von mehr als 10 Millionen Mal ermöglicht. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über einen integrierten hochauflösenden Digitalkameraanschluss zur Erfassung digitaler Bilder mit einer Auflösung von bis zu 5000 Pixeln über das Sichtfeld. Das Gerät ist für den Einsatz in einer Vielzahl von Anwendungen der Rasterelektronenmikroskopie konzipiert, einschließlich Oberflächenuntersuchungen von nanoskaligen Geräten, Materialanalyse, Fehleranalyse und Charakterisierung. Das Instrument bietet Abbildungsmodi für monochromatische und farbige Bildgebung. Das Instrument ist mit mehreren anwenderwählbaren Automatisierungs- und Probenmanipulationsfunktionen ausgestattet, die einen schnellen Routinebetrieb ermöglichen. Es ist auch mit einer Reihe von erweiterten Softwarefunktionen ausgestattet, einschließlich automatisierter Musterausrichtung und automatisierter Datenverarbeitung. RS7500-20 ist auch mit einer breiten Palette von Zubehör und Probenhaltern kompatibel, darunter MINT-Halter, Probenhalter für Flüssigkeits- oder Pulverproben oder eine Vielzahl anderer Arten von Haltern. Darüber hinaus ist das Mikroskop mit einer integrierten elektronischen motorisierten Bühne und einem Probenmanipulator ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, Proben während der Analyse zu drehen, zu kippen und zu bewegen. Dieses fortschrittliche Rasterelektronenmikroskop ist ein zuverlässiges und leistungsstarkes Instrument, das Anwendern eine äußerst vielseitige Bildgebungsplattform bietet. Es ist ein ideales Werkzeug für eine Vielzahl von Materialwissenschaften und Forschungsanwendungen und bietet beispiellose bildgebende Fähigkeiten und Auflösung.
Es liegen noch keine Bewertungen vor