Gebraucht HITACHI S-2380N #293755140 zu verkaufen

HITACHI S-2380N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) der HITACHI High Technologies Corporation. Es wird hauptsächlich in den Bereichen Materialwissenschaft, Life Science, Halbleiter, Elektronenstrahllithographie, Messtechnik und industrielle Inspektion eingesetzt. S-2380N besitzt eine Rasterelektronensäule bestehend aus einer Elektronenkanone, Säulenkomponenten mit Kondensatorlinsen, einer Objektivlinse und einem Sekundärelektronendetektor (SE). Die Elektronenkanone ist in der Lage, hohe thermische Elektronenstrahlen bei einem weiten Beschleunigungsstrombereich bis zu einem maximalen Strom von 250 nA mit einem Energiebereich von 5 bis 30 keV zu erzeugen. Es hat die Fähigkeit, eine Probe mit einer Auflösung von 2 nm Durchmesser im Back Scatter Electron Mode (BSE) bei einer Primärstrahlgröße von 5 nm und einer Höhenauflösung von 1 nm im High Resolution Imaging Mode (HRIM) abzubilden. HITACHI S-2380N verfügt über ein Hochvakuumsystem mit einem Basisdruck von 3x10-6 Pa. Ein vakuumdichter Niedervakuum-Modus ermöglicht die Beobachtung unter den Bedingungen von 0,1 bis 10 Pa. S-2380N ist auch mit einer Vielzahl von Bildgebungs- und Analysefunktionen ausgestattet, die quantitative und qualitative Informationen über die Morphologie von Proben liefern. Dazu gehören Secondary Electron Imaging (SEI), Backscattered Electron Imaging (BEI), Backscattered Electron High Resolution Imaging (BSE-HRIM), Backscattered Electron Channeling Contrast Imaging (C-CDI) und Energy Dispersive X-ray Spectrods. Das bildgebende System von HITACHI S-2380N integriert sich vollständig in die bildgebenden und analytischen Fähigkeiten, um die Position und den Beobachtungswinkel zu steuern, die Objektivblende zu öffnen und zu schließen, kleinere Fehlstellungen zu korrigieren, analoge Bilder aufzuzeichnen und Elektronenbelichtungen zu initiieren. In Bezug auf die Automatisierung verfügt S-2380N über mehrere Funktionen, um einen effizienten Betrieb zu unterstützen. Es kann bis zu zehn Bedingungen für die automatisierte Probenstufe speichern, außerdem verfügt es über eine AutoLens-Taste, die Beschleunigungsspannung und Elektronenstrom synchron steuert. Darüber hinaus kann die BatchScan-Funktion in automatischen Sequenzen ausgeführt werden, wobei vorprogrammierte Parameter und Bedingungen für die Abtastung von Proben manipuliert werden. HITACHI S-2380N bietet eine breite Palette von Funktionen, die den effizienten Betrieb des Elektronenmikroskops erleichtern. Es soll Benutzern ermöglichen, ihre Proben mit Genauigkeit und Vertrauen zu untersuchen, so dass sie die relevantesten Informationen für ihre Forschung und Analyse erhalten. Die Kombination seiner Eigenschaften macht S-2380N zu einer idealen Wahl für Materialwissenschaft, Life Science, Halbleiter, Elektronenstrahllithographie, Messtechnik und industrielle Inspektion.