Gebraucht HITACHI S-2400 #9080006 zu verkaufen

HITACHI S-2400
ID: 9080006
Scanning electron microscopes (SEM).
HITACHI S-2400 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochleistungsfähiges analytisches Bildgebungssystem, das eine hochauflösende Beobachtung und Analyse von nanoskaligen Objekten ermöglicht. Es ist mit einer Vielzahl von Funktionen und Funktionen ausgestattet, einschließlich Hochgeschwindigkeitsbetrieb und präzise 3D-Analyse. S-2400 ist ein Umgebungs-Rasterelektronenmikroskop, das bedeutet, dass Proben, die bestimmten Umgebungsbedingungen wie Temperatur und Feuchtigkeit ausgesetzt sind, genau gemessen werden. Es hat einen hohen Durchsatz und kann eine Probe mit einer Geschwindigkeit von bis zu 50 Bildern pro Sekunde scannen. Darüber hinaus verfügt es über eine zweistufige Feldemissionskanone zur erhöhten Elektronenstrahlstabilität bei der Bilderfassung. HITACHI S-2400 verfügt über mehrere Abbildungsmodi, darunter einen Standard-Hellfeldmodus, einen 3D-Stereomikroskop-Modus, einen Röntgenmikroanalyse-Modus und einen Rückstreuelektronen (BSE) -Bildgebungsmodus. Der Hellfeldmodus wird verwendet, um ein Bild auf eine sehr hohe Auflösung zu vergrößern. Der 3D-Stereomikroskop-Modus ist ideal für die Analyse feiner Details einer Probe mit hoher Tiefe. Der Röntgenmikroanalyse-Modus kann verwendet werden, um bestimmte Elemente einer Probe zu analysieren, und der BSE-Modus hilft zu erkennen, welche Elemente und/oder Moleküle in einer Probe vorhanden sind. S-2400 verfügt auch über eine wählbare Niedervakuum-Umweltkammer, die die Auflösung des Bildes unter vermindertem Druck verbessern kann. Dies ermöglicht die Beobachtung fragiler Proben ohne Beschädigung. Die Niedervakuumkammer kann schnell be- und entladen werden, wodurch die Bilderfassungszeit schneller und effizienter wird. HITACHI S-2400 kann mit einer Reihe von Zubehör integriert werden, um seine Fähigkeiten zu verbessern. Dazu gehören Halbleiterbauelemente wie X-Y-Stufen, Probenhalter und verschiedene Vakuumsysteme. Dies ermöglicht eine breite Palette von Funktionen, wie Low-Vakuum-Scanning, Low-Angle-Imaging, Umgebungskammer für Hochtemperaturanalysen und zusätzliche bildgebende Funktionen. S-2400 vereint eine Reihe von Merkmalen und Fähigkeiten, damit Forscher und Wissenschaftler eine Vielzahl von nanoskaligen, biologischen und Materialproben mit verbesserter Auflösung und Genauigkeit untersuchen können. Die wählbare Niedervakuum-Umweltkammer, die Breite der bildgebenden Modi und eine Reihe von Zubehör sorgen dafür, dass sie für eine breite Palette von Anwendungen geeignet ist.
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