Gebraucht HITACHI S-2400 #9158565 zu verkaufen

HITACHI S-2400
ID: 9158565
Scanning electron microscope, (SEM).
HITACHI S-2400 Rasterelektronenmikroskop ist ein fortschrittliches bildgebendes System zur Visualisierung und Analyse komplizierter Mikrodetails auf einer Vielzahl von Materialien. S-2400 verwendet eine Kombination aus Feldemissionselektronenoptik, Elektronenkanone und stehendem Phasenschiebedeflektor. Dieses System ermöglicht hochauflösende Bildgebung und verbesserte Informationstiefe. Mit seinen Mikrobildgebungsfähigkeiten und seiner nanoskaligen Empfindlichkeit wurde HITACHI S-2400 verwendet, um Proben so klein wie Nanometer in der Größe zu untersuchen. S-2400 hat mehrere Vorteile für die Elektronenbildgebung. Erstens, weil es die Elektronenkanone und Feldemissionsoptik verwendet, bietet HITACHI S-2400 einen weiten Vergrößerungsbereich, der eine hochauflösende Abbildung großer Flächen mit nur einer Probe ermöglicht. Zweitens ist der stehende Wellenphasenabweiser hochgenau und ermöglicht präzise Messungen des Elektronenweges und ihrer Wechselwirkungen mit der Probe. Drittens verfügt S-2400 über einen niedrigen Hintergrundrauschpegel, ein wesentlicher Vorteil gegenüber rivalisierenden Rasterelektronenmikroskopen. HITACHI S-2400 besitzt wie andere Rasterelektronenmikroskope eine In-Sample-Empfindlichkeit. Diese Empfindlichkeit ermöglicht extrem detaillierte Bilder und präzise Messungen in nanoskaliger Auflösung. Darüber hinaus ermöglicht S-2400 die Erhöhung der Schärfentiefe die Untersuchung dreidimensionaler Proben, wodurch das Problem der topographischen Verzerrung durch die flache Schärfentiefe anderer Elektronenmikroskope gelindert wird. Darüber hinaus verfügt HITACHI S-2400 über eine hochleitende Probenmontagelösung und eignet sich ideal zur Abbildung leitfähiger Proben. Darüber hinaus ist die Kombination aus stehendem Wellenphasenabweiser, Probe-Selbst- und Positioniermechanismen und Hochgeschwindigkeits-Bilderfassungsmodus S-2400 ideal für Mehrfeldbeobachtungen. Schließlich umfasst HITACHI S-2400 eine Reihe von Probenvorbereitungs- und bildgebenden Anbauteilen, einschließlich Hochvakuumpumpsystemen, Probenheizsystemen und bildgebenden Umweltkammern. Insgesamt ist S-2400 Rasterelektronenmikroskop ein unschätzbares Werkzeug für die Erforschung komplizierter Mikro- und Nanoproben. Mit seinem breiten Vergrößerungsbereich, dem geringen Rauschpegel und der fortschrittlichen Elektronenstrahlempfindlichkeit ist HITACHI S-2400 für eine Vielzahl von Anwendungen in der Mikroskopie und Analyse gut geeignet.
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