Gebraucht HITACHI S-2460N #293623664 zu verkaufen

ID: 293623664
Scanning Electron Microscope (SEM) Pc include.
HITACHI S-2460N ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das die detaillierte Oberflächenbildgebung und Analyse von Materialien schneller und einfacher macht. Mit seiner Kaltfeld-Emissionskanone und der proprietären Elektronenoptik bietet es eine überlegene Auflösung, überlegene Bildklarheit und einen überlegenen Kontrast. Es hat die Fähigkeit, zwischen hohen und niedrigen Vergrößerungseinstellungen zu wechseln, was eine größere Vielseitigkeit für Benutzer bietet. Die bildgebende Ausrüstung von S-2460N umfasst eine Cold Field Emission Gun (CFEG) für Hochleistungs-Bildgebung, eine einzelne elektromagnetische Objektivlinse mit 3 Ports und ein einzigartiges kombinierbares optisches System, um Aberrationen zu minimieren. Dieses Gerät bietet eine hervorragende bildgebende Leistung mit einer Auflösung von 1,6 nm bei 10 kV und einem Arbeitsabstand von 7 mm. HITACHI S-2460N verfügt auch über eine digitale Bildverarbeitungsmaschine, die die Bildaufnahme bei 2048 x 2048 Pixeln mit einer maximalen Bildrate von 15 fps und 16-Bit-Datentiefe unterstützt. Für erweiterte Bildgebungsfunktionen steht ein optionaler 5-Zoll-LCD-Monitor mit zwei Ports zur Verfügung. S-2460N verfügt über einen In-Column-Energiefilter, mit dem sehr dünne Materialschichten mit hoher Genauigkeit erkannt und gemessen werden können. Es verfügt auch über ein erweitertes Sample Handling Tool (SHS), mit dem Benutzer verschiedene Proben auf mehreren EDS-Detektoren schnell austauschen und analysieren können. Für Zuverlässigkeit und Genauigkeit verfügt HITACHI S-2460N über ein ausgeklügeltes Vacuum Control Asset (VCS), mit dem die für die hochauflösende Bildgebung erforderlichen Drücke aufrechterhalten werden können. Ein automatisiertes Ausrichtungsmodell sorgt dafür, dass Probe und Elektronenoptik exakt ausgerichtet sind und die Vakuumkammer von S-2460N während der Bildgebung sauber und stabil bleibt. Um die Auflösung und Bildklarheit weiter zu verbessern, verfügt HITACHI S-2460N auch über eine variable Druckabbildungsumgebung, die eine variable Druckabtastung nutzt, um auch dünne Schichten und Merkmale zu erkennen und zu messen. Darüber hinaus verfügt es über einen optionalen variablen Druck, eine variable Spannung und eine variable Druckabbildungsfunktion zur Abtastung bei niedrigen bis hohen Drücken, Spannungen und Energien. Insgesamt ist S-2460N eine ideale Lösung für die hochauflösende Bildgebung und Analyse verschiedener Proben. HITACHI S-2460N ist mit seiner fortschrittlichen Kaltfeld-Emissionspistole, digitalen Bildgebungsausrüstung, Energiefilter, Probenhandhabungssystem und Vakuum-Steuereinheit ein ausgezeichnetes Werkzeug für Fachleute und akademische Anwender, die nach verbesserten Bildgebungs- und Analysefähigkeiten suchen. Ob Oberflächenbildgebung von Materialien, Dünnschichtbildgebung oder nanoskalige Analyse, S-2460N ist eine ideale Lösung.
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