Gebraucht HITACHI S-2460N #293767583 zu verkaufen

HITACHI S-2460N Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein Gerät zur anspruchsvollen Materialanalyse. Es erleichtert die visuelle Beobachtung und Analyse physikalischer Proben bei sehr hohen Vergrößerungen. So können Forscher die inneren Mikrostrukturen und chemischen Eigenschaften von Materialien und Proben untersuchen. Herzstück von S-2460N ist eine Vakuumausrüstung kombiniert mit einer komplexen Anordnung von elektronischen, optischen und mechanischen Komponenten. Das Vakuumsystem trägt zur Aufrechterhaltung der Umweltstabilität der zu beachtenden Probe bei. Wenn die Einheit verwendet wird, werden Elektronen von der Elektronenkanone emittiert und laufen durch die Vakuummaschine und beeinflussen ein Zielmaterial. Die von der Probe umgesetzten Sekundärelektronen, Rückstreuelektronen und Röntgenstrahlen werden dann von den Detektoren bzw. dem Bildverarbeitungswerkzeug gesammelt und verarbeitet und angezeigt. HITACHI S-2460N ist in der Lage, Vergrößerungen zwischen 10.000x und 100.000x zu erzeugen. Diese Vergrößerung wird durch eine Kombination aus variabler Strahlbeschleunigungsspannung und variablen Arbeitsabständen ermöglicht. Dies trägt dazu bei, die Beobachtungsunterschiede aufgrund der unterschiedlichen Dicke und des Materials der Proben zu berücksichtigen, die das Erreichen der hohen Vergrößerungen beeinflussen können. Darüber hinaus nutzt das Asset digitale Bildverarbeitungssysteme und eine Reihe digitaler Bildverarbeitungstechnologien, die die Bildqualität und Gleichmäßigkeit verbessern. S-2460N bietet eine breite Palette zusätzlicher Hardware- und Softwareoptionen, die die Leistung verbessern. Dazu gehört eine drehbare Gerätestufe (drehbar auf maximal 60 °) sowie ein optionales Muster-Heizmodell. Die Probenheizeinrichtung gewährleistet die Aufrechterhaltung der Eigeneigenschaften einer Probe über einen weiten Temperaturbereich und ermöglicht die Beobachtung molekularer Veränderungen. HITACHI S-2460N bietet dem Forscher ein hervorragendes Werkzeug für ein breites Anwendungsspektrum. Dazu gehören Halbleiter- und Geräteanalyse, materialwissenschaftliche Forschung, wissenschaftliche Studien, industrielle Messung und Analyse, Entwicklung und Qualitätskontrolle. Das Gerät eignet sich auch hervorragend für die Fehleranalyse, da es extrem kleine strukturelle Fehler erkennen kann, die selbst mit bloßem Auge oft unsichtbar sind. Insgesamt ist S-2460N ein ausgeklügeltes und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das Forschern ein zuverlässiges, hocheffizientes Instrument für die Material- und Probenanalyse sowie für die visuelle Beobachtung von Proben bietet. Seine beeindruckende Kombination aus außergewöhnlicher Vergrößerung, digitaler Bildgebung und drehbarem Stadium, Probenheizung und anderen Zubehör-Hardware-Optionen machen es zu einem unverzichtbaren Bestandteil eines Labors oder einer Testeinrichtung.