Gebraucht HITACHI S-2460N #9139355 zu verkaufen

ID: 9139355
Scanning electron microscope (SEM) Oxford Detector Robinson Back Scatter Robinson Chamber Scope Camera EDS Secondary Electron PCI.
HITACHI S-2460N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für seine hervorragende Fähigkeit zur Bereitstellung hochauflösender Bilder bekannt ist. Das Instrument ist mit einer Projektions-Elektronensäule (PEC) ausgestattet, die eine hervorragende Bildgebungsleistung bei erhöhter Schärfentiefe und Auflösung bietet. Dieses SEM hat auch eine hohe Vergrößerungsfähigkeit und liefert detaillierte Beobachtungen. Darüber hinaus ermöglicht die integrierte bildgebende Ausrüstung eine ganze Reihe von Auflösungs- und Vergrößerungseinstellungen. S-2460N Rasterelektronenmikroskop umfasst erweiterte Funktionen wie elektrisches Störungsunterdrückungssystem (EIS), variabler Punktabtastmodus und digitale Kollisionsstromsteuereinheit (DCCS). Die EIS-Maschine sorgt für eine störungsfreie Bildqualität, während der Variable-Spot-Scanmodus effektiv zur Detailbeobachtung von Proben genutzt werden kann. Darüber hinaus bietet sein digitales Kollisionsstrom-Steuerwerkzeug (DCCS) eine digitale Steuerung des Elektronenstroms und ermöglicht präzise Anpassungen für den Langzeitbetrieb. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine eingebaute Bildverarbeitungseinrichtung zur Bildoptimierung. Das Gerät wird mit einem automatisierten Probenlader geliefert, der eine schnelle und einfache Probenuntersuchung ermöglicht. Es bietet auch die Möglichkeit, Messungen vorzunehmen und Probenoberflächen auszuwerten. HITACHI S-2460N verwendet außerdem eine dreistufige Prüfling-zu-Bild-Übersetzungsstation, die die Probe automatisch in die gewünschte Ebene bewegt und positioniert. Die Station verfügt außerdem über eine automatisierte Ausrichtung, die die Rüstzeit verkürzen und die Bildübertragung vereinfachen soll. S-2460N verfügt zudem über einen integrierten Kommunikationsport, der eine einfache Datenübertragung und Fernbedienung ermöglicht. Seine benutzerfreundliche Oberfläche macht es einfach, Daten, Analysen und Bilder zu interpretieren und zu interpretieren. Das Rasterelektronenmikroskop ist zudem mit einer niedrig dosierten Funktion ausgestattet, die Probenschäden reduziert. Insgesamt ist HITACHI S-2460N ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop mit einer beeindruckenden Auswahl an Funktionen. Die stabile Leistung, die hohe Leistungsfähigkeit und die benutzerfreundlichen Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen und bieten außergewöhnliche Bildgebungsleistung für wirklich genaue Ergebnisse.
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