Gebraucht HITACHI S-2500 #9071216 zu verkaufen

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ID: 9071216
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 2.5 nm in high resolution mode Maximum magnification: 200000 LaB6 filament (2) Condenser lenses Electron detectors (2) Secondary electron (Scintillator-photomultiplier) detectors NORAN 5400 Energy dispersive x-ray microanalysis system Ultrathin window light element detector NORAN 8500 Image analysis system FISONS POLARON E7 400 Cryotrans system Lower detector mounted below objective lens Upper detector mounted above objective lens Backscattered electron (Solid state) detector Transmitted electron detector mounted below specimen Dynamic focus Tilt correction Gamma control Split screen Dual magnification Automatic data display Polaroid camera Ion pump for electron gun Oil diffusion pump for column Closed recirculating water chiller to cool diffusion pump Accelerating voltage: 0.5-30 kV.
HITACHI S-2500 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit verbesserter Auflösung und Leistung. Es ist mit einzigartigen Funktionen und Funktionen wie hochauflösende Bildgebung, erweiterte In-Linsen-Sekundärelektronendetektoren und eine automatisierte Scan-Controller entworfen. HITACHI S 2500 nutzt ein einzigartiges elektronenoptisches Design, das eine hervorragende Auflösung ermöglicht, was zu klaren Bildern führt. Es verfügt über einen integrierten VPI-SEI-Detektor (High-Performance Variable Pressure Secondary Electron Imaging), der hochauflösende Bilder mit Kontraststeuerung über einen weiten Vergrößerungsbereich bereitstellt. Der In-Linsen-Elektronenanalysator wurde entwickelt, um eine Vielzahl von energieabhängigen Signalen wie Auger-Elektronen und Röntgenstrahlen zu detektieren. Diese Funktion kombiniert mit der Fähigkeit, horizontale und kippbare Drehscans durchzuführen, bietet den Benutzern verbesserte Bildgebungsfunktionen. S-2500 Einbindung eines Scan-Controllers ermöglicht hochautomatisierte Scanvorgänge. Dieses Gerät wird intern gespeichert und ermöglicht es Benutzern, mehrere Scanparameter einzustellen und zu speichern, einschließlich Scangeschwindigkeit, Größe und Auflösung. Der Controller stellt zudem eine hohe Bildanalysesoftware zur Verfügung, mit der Bilder erfasst sowie Daten und statistische Analysen der erfassten Daten durchgeführt werden können. Das System verfügt über fünfzehn Gesamtdetektoren, von denen drei der hochauflösenden Bildgebung gewidmet sind, neun sind für die elektronenlokalisierte magnetische Anlysis (LEMA), drei für In-Linsen-Elektronenenergiespektren (LCEDS) und drei für die Röntgenabbildung konzipiert. Diese Vielzahl von Detektoren stellt sicher, dass Benutzer eine breite Palette von Experimenten an allen Arten von Proben durchführen können. Neben der Vielzahl der bildgebenden Modi bietet S 2500 auch Optionen für automatische Probenausrichtung und mechanische Stufen. Es ist auch mit den neuesten Musterhaltern wie zweistufigen Haltern, motorisierten Manipulatoren und Schnellhaltern ausgestattet. HITACHI S-2500 bietet auch eine Reihe automatisierter Softwareoptionen, die den Benutzer weiter unterstützen und einen Großteil der Komplexität im Zusammenhang mit SEM-Betrieb eliminieren. Diese Optionen umfassen automatisierte Scanroutinen, Kalibrierung und eine automatisierte Musterausrichteinheit. HITACHI S 2500 ist ein ideales Werkzeug für die Nanocharakterisierung von praktisch jeder Art von Probe. Es ist eine intuitive und einfach zu bedienende Maschine, die schnell hochauflösende Bilder mit minimaler Benutzereingabe erzeugen kann. Darüber hinaus tragen die automatisierten Funktionen dazu bei, die Erfassung von Funktionen aus komplexen Mustern zu beschleunigen und gleichzeitig die höchste Qualität der Bildgebung und Analyse zu gewährleisten.
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