Gebraucht HITACHI S-2600H #293617185 zu verkaufen

HITACHI S-2600H ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hochauflösende Bildgebung, Probenbeobachtung und Analyse. Es verwendet alle notwendigen Komponenten für den traditionellen SEM-Betrieb - einschließlich Elektronenstrahl, Vakuumausrüstung, Probenhalter, Detektionssystem und Computersteuerung -, um maximale Genauigkeit und Präzision bei der Betrachtung einer bestimmten Probe zu bieten. Dieses SEM ist mit einer Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle ausgestattet, die helle, energiereiche Elektronenstrahlen ermöglicht. Die FEG gibt eine geringe Lebensdauer der Quelle, bietet langfristige Stabilität und hochauflösende Bildgebung. S-2600H ist in der Lage, kleine Merkmale abzubilden, einschließlich solcher mit einem Durchmesser von weniger als 1 nm, sowie größere Merkmale. Die Bilder sind unglaublich klar und zeigen Details wie innere Oberflächenrauhigkeit und andere Eigenschaften. Probenbilder können auch unter verschiedenen Betriebsbedingungen wie Niedrigvakuum oder Hochvakuum aufgenommen werden. Dadurch erhält der Anwender unabhängig vom Probenmaterial hochauflösende Bilder. HITACHI S-2600H verfügt über eine integrierte Bildverarbeitungssoftware, die es dem Benutzer ermöglicht, einfach Messungen und Berechnungen durchzuführen. Dies ist besonders nützlich für die Materialforschung, da Bilder leicht verglichen und analysiert werden können, um Form, Größe, Orientierung und andere Eigenschaften einer Probe zu bestimmen. Die Software-Suite ermöglicht auch die Erstellung von 3D-Bildern, wodurch eine lebendige Darstellung der Struktur der Probe. Schließlich ist S-2600H auch mit einer Probe Autofokus-Einheit ausgestattet. Diese servogetriebene Maschine verwendet Feedback vom Scanner, um den Fokus des Bildes genau anzupassen, um die Bildauflösung zu maximieren. Dies verhindert die Notwendigkeit manueller Fokusanpassungen, um sicherzustellen, dass jedes Mal die höchstauflösenden Bilder erreicht werden. HITACHI S-2600H ist ein hochwertiges Rasterelektronenmikroskop, das dem Anwender hervorragende Bildgebungs- und Analysefunktionen bietet. Mit seinem breiten Spektrum an Merkmalen und Komponenten kann es bei einer Vielzahl von Anwendungen im Bereich der Materialforschung und -analyse helfen.