Gebraucht HITACHI S-2600N #293626644 zu verkaufen

HITACHI S-2600N Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein ausgezeichnetes Werkzeug für hochauflösende Mikrobilder und Analysen. Das Mikroskop bietet einen ausgezeichneten Vergrößerungsbereich von 7x bis 600.000x und eine außergewöhnliche Schärfentiefe für die Bildgebung. Der Rasterelektronenstrahl kann sekundäre Elektronenbilder erzeugen, die ein hervorragendes Oberflächendetail liefern. Die Probe kann auch exakt im Blickfeld positioniert und zentriert werden und die Kantenerkennungsfähigkeiten der S-2600N gewährleisten stabile Abbildungsbedingungen. HITACHI S-2600N hat einen leistungsstarken Beschleunigungsspannungsbereich zwischen 0,3 und 10 kV und eine ausgezeichnete Spotgröße von weniger als 5 Nanometern. Mit einer automatischen Fokussteuerung im Mikroskop können Benutzer den Fokus und die Position der Probe leicht einstellen. Samples können sowohl im hellen als auch im Dunkelfeldmodus gerendert werden, um einen hervorragenden Kontrast in den angezeigten Bildern zu erzielen. S-2600N verfügt über eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analysefähigkeiten, einschließlich der Rasterelektronenbeugung (SCED) für die kristallographische Analyse. Der Benutzer kann auch aus einer Vielzahl von Detektoren auswählen, um die Struktur- und Kompositionsdaten aus der Probe zu optimieren. Der Nachweisbereich umfasst rückgestreute Elektronen, Sekundärelektronen, Schneckenelektronen und Röntgenstrahlen. Die Probenkammer beherbergt bis zu drei verschiedene Stufen für den Einsatz in der Bildgebung und Analyse. Eine automatische Stufe hilft, die Vorteile der verfügbaren Vergrößerungen zu nutzen, mit Funktionen, die den Prozess der Probenpositionierung und Ausrichtung in der Kammer vereinfachen. Das Mikroskop wird auch mit einer Vielzahl von Detektoren und Haltern geliefert, die einen schnellen und einfachen Import von Proben ermöglichen. Schließlich verfügt HITACHI S-2600N über hervorragende Umweltkontroll- und Vakuumfunktionen, so dass Benutzer Proben im Spitzenzustand untersuchen können, ohne sich um Luftstörungen zu kümmern. Das Vakuumsystem ist in der Lage, Drücke bis zu 0,10 Pa zu erreichen, und die Umgebungskammer ist Temperatur und pH-Wert geregelt, um die höchste Qualität der Proben zu halten. Die Kombination all dieser Merkmale macht S-2600N zu einem idealen Instrument für die SEM-Bildgebung und -Analyse.