Gebraucht HITACHI S-2600N #293657550 zu verkaufen

HITACHI S-2600N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für hohe Probendurchsätze und Präzisionsbilder. Es ist mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet, die hochauflösende Bildgebung und fortschrittliche Messtechniken erleichtern. S-2600N verfügt über eine Feldemissionskanone (FEG) Elektronenquelle, die eine außergewöhnlich hohe Auflösung von bis zu 0,8 nm liefert, sowie eine hohe Ladestabilitätsschaltung für mehr Probenstabilität. Diese höhere Auflösung ermöglicht es Benutzern, feinere Funktionen abzubilden und qualitativ hochwertigere Ergebnisse zu erzielen. Die FEG bietet auch eine breite Palette von Beschleunigungsspannungen, von 30kV bis 8kV. HITACHI S-2600N bietet auch eine Ultramagnification-over-Perfect-Field (Uperf) -Fähigkeit, die Auflösungen bis zu 0,36 nm erreichen kann, mit einer größeren Schärfentiefe als herkömmliche SEM. Dies erweitert das Spektrum der Proben, die mit S-2600N untersucht werden können, und erleichtert detaillierte Beobachtungen. HITACHI S-2600N ist auch mit einer Z-Piezo-Motorstufe für hochpräzise X-Y-Bewegung ausgestattet. Dies ermöglicht eine schnelle Positionierung und eine Stufenmontage, die für automatisierte Probenvorbereitungsprozesse unerlässlich ist. Darüber hinaus bietet die Z-Piezo-Motorstufe eine Ausrichtungs- und Bewegungssteuerungsgenauigkeit von bis zu 10nm, was eine genaue Probenpositionierung für eine sehr feine Probenanalyse ermöglicht. S-2600N verfügt auch über eine neu entworfene Gasdetektorausrüstung, die in der Lage ist, winzige Zusammensetzungsänderungen des von einer bestimmten Probe emittierten Gases zu erfassen. Mit diesem System können Elemente wie Kohlenstoff, Sauerstoff und Stickstoff analysiert werden, wodurch Forscher bessere Einblicke in die Probenzusammensetzung und chemische Reaktionen erhalten. HITACHI S-2600N ist zudem mit einer robusten Vakuumeinheit ausgestattet, die die Probenkontamination minimiert und dynamische Vakuumwerte für längere Zeit aufrechterhält. Diese Maschine ermöglicht längere Arbeitszeiten als andere SEMs und ermöglicht eine detailliertere Untersuchung von Proben. Insgesamt ist S-2600N ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop für eine Vielzahl von Anwendungs- und Forschungsanforderungen. Die Kombination aus Auflösung, Sauberkeit und verlängerten Arbeitszeiten machen es zu einer idealen Lösung für Forscher, die eine detaillierte und präzise Bildgebung erreichen möchten.