Gebraucht HITACHI S-2600N #9384721 zu verkaufen

ID: 9384721
Scanning Electron Microscope (SEM).
Das HITACHI S-2600N Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches Instrument zur präzisen Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben. S-2600N verwendet einen automatisierten Scan-Generator, der ein schnelles Scannen ermöglicht und einen vielseitigen Betrieb ermöglicht. Das Gerät ist mit einem digitalen Bildverarbeitungssystem ausgestattet, das hochauflösende Bilder leicht sammeln und verarbeiten kann. HITACHI S-2600N verwendet eine Elektronenkanone und eine Kondensatorlinse, um einen energiereichen Strahl zu erzeugen, der die Probe bei hoher Vergrößerung abtastet. Dieser Rasterelektronenstrahl dient dazu, die Oberfläche der Probe sehr detailliert abzubilden, und die erzeugten Bilder sind hochgenau. Der Elektronenstrahl kann auch Anzeigebilder erzeugen, die die dreidimensionalen Merkmale der Probe mit verbessertem Kontrast darstellen. Um eine überlegene bildgebende Auflösung zu erreichen, verwendet S-2600N eine Reihe von Detektoren, die ausreichend Elektronensignale von der interessierenden Probe sammeln. Die Detektoren erzeugen auch hochauflösende Bilder, die sowohl in farbigen als auch in Schwarz-Weiß-Darstellungen betrachtet werden können. Die Vakuumtechnologie wird auch in HITACHI S-2600N implementiert, um eine Hochvakuumumgebung aufrechtzuerhalten und eine Elektronenstrahlstreuung zu verhindern. Die Hochvakuumumgebung trägt dazu bei, die Anzahl der außerhalb der Probe verstreuten Elektronen zu reduzieren, was zu einer besseren Bildqualität führt. Dieses Merkmal ermöglicht auch eine hohe Vergrößerung von Kleinobjekten. S-2600N umfasst auch eine fortgeschrittene Stufenbewegungseinheit, die eine präzise Abtastung verschiedener Probenbereiche ermöglicht. Die Stufe bietet eine präzise Positionierung der Probe innerhalb des Elektronenstrahls und ermöglicht verschiedene Konfigurationen. Darüber hinaus ist HITACHI S-2600N mit einer motorisierten Fokusmaschine ausgestattet, die die Konvergenz und Divergenz des Elektronenstrahls steuert. Diese Funktion ermöglicht eine präzise Platzierung des Balkens und eine breite Palette von Vergrößerungen. Die benutzerfreundliche grafische Oberfläche von S-2600N ermöglicht eine effiziente Bedienung des Werkzeugs. Praktiken wie automatisierte spektroskopische Analyse und Bildverbesserung lassen sich mit der grafischen Oberfläche einfach durchführen. Zusammenfassend ist HITACHI S-2600N ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das exzellente Details und Details einer Vielzahl von Proben liefert. Seine hochauflösende Bildgebung, Vakuumtechnologie, Bühnenbewegungsanlage und motorisiertes Fokusmodell machen es zu einem wirksamen Werkzeug für Forschung und industrielle Anwendungen.
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