Gebraucht HITACHI S-2700 #293751449 zu verkaufen

HITACHI S-2700 Rasterelektronenmikroskop ist ein fortschrittliches Instrument zur Betrachtung und Analyse von Oberflächenmerkmalen, Partikeln, Morphologie und anderen Oberflächendetails. Es verwendet einen Hochspannungselektronenstrahl, der über eine Probenoberfläche gescannt wird, um ein hochauflösendes Bild zu erzeugen, das sowohl zweidimensionale (2D) als auch dreidimensionale (3D) Bildgebungsfähigkeiten bietet. S-2700 können Echtzeit-Bildgebung bei Vergrößerungen von 500x bis 500.000x erzeugen und Biologen, Metallurgikern und Materialwissenschaftlern die Möglichkeit bieten, Details von Proben zu visualisieren, zu manipulieren und zu beobachten. HITACHI S-2700 verwendet fortschrittliche Strahlfokussierungstechnologie, um eine hervorragende Auflösung und Kontrast mit niedrigen Hintergrundpegeln zu bieten, die die Beobachtung minutengenauer Details ermöglicht. Seine Sekundärelektronen-, Rückstreuelektronen- und Röntgenabtastfähigkeiten bieten eine breite Palette von Bildtypen für informative Analysen, einschließlich Elementaranalysen zur Identifizierung chemischer Zusammensetzung und Struktur. S-2700 bietet sowohl traditionelle manuelle Steuerung als auch benutzerfreundliche automatische Steuermodi, die eine breite Palette von Benutzereinstellungen ermöglichen. Die interaktive grafische Benutzeroberfläche ist intuitiv für eine schnelle und einfache Bedienung ausgelegt. Weitere Funktionen von HITACHI S-2700 umfassen einen zweistufigen Geschützrevolver, mit dem Benutzer zwischen zwei verschiedenen Geschützen wechseln können, sowie einen leistungsstarken Stufenkippmechanismus mit einer Reichweite von +/- 30 ° und einer alle Richtungskippsteuerung. Die Strahlverzögerungslegierungsvorrichtung reduziert die Probenkammertemperatur, um Schäden und Zerfall zu verhindern, während die Kammertemperatur auf innerhalb von ± 0,1 ° C und die Bildauflösung bis zu 0,03 nm geregelt werden kann. Die Vakuum- und Umgebungssteuerungssysteme überwachen Probenkammerdruck, Gaskonzentration und Temperatur und bieten einen stochastischen Modus zur Analyse größerer Bereiche. Das eingebaute EDX-Hochleistungssystem nutzt Si/SiLi-Detektoren, um die Elemente in der Probe genau und effizient zu messen. Abschließend ist S-2700 ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop, das eine breite Palette von Funktionen für präzise Bildgebung und Analyse bietet. Es kombiniert ausgezeichnete Auflösung, Kontrast und Echtzeit-Bildgebung, um eine detaillierte Analyse von Proben bei Vergrößerungen von 500x bis 500.000x zu ermöglichen. HITACHI S-2700 bietet auch viele erweiterte Funktionen, wie seinen zweistufigen Geschützrevolver und leistungsstarke Bühnenkippmechanismen, sowie eine interaktive grafische Benutzeroberfläche für einfache Bedienung. Das eingebaute EDX-Hochleistungssystem eignet sich ideal zur Analyse von Elementen in der Probe. Durch die Kombination überlegener bildgebender Funktionen mit fortschrittlichen Funktionen ist S-2700 eine ausgezeichnete Wahl für jeden Wissenschaftler oder Forscher auf der Suche nach einem hochwertigen Rasterelektronenmikroskop.