Gebraucht HITACHI S-3000 #293671428 zu verkaufen

HITACHI S-3000 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die mikrostrukturelle und topographische Analyse unterschiedlichster Proben. Es bietet eine Reihe von zusätzlichen Modi und hochauflösende Leistung für anspruchsvolle bildgebende Anwendungen. Dieses fortschrittliche SEM verfügt über eine Umweltsäule für den Betrieb in einer Vielzahl von Gasen und Drücken, die eine hochauflösende Abbildung von Proben unter Umgebungs- oder Ultrahochvakuumbedingungen ermöglicht. Die Umweltsäule ermöglicht auch die Analyse fragiler Proben unter variablen optischen Bedingungen. Das neue S-3000 Rasterelektronenmikroskop (SEM) bietet eine verbesserte Auflösung und Leistung sowie innovative Designs zur Verbesserung der Benutzererfahrung. Eine hohe Auflösung wird mit einem Sekundärelektronendetektor (SE2) mit einer maximalen Auflösung von 1,1 nm erreicht. Die Elektronik ist für den rauscharmen Betrieb optimiert und gewährleistet eine möglichst hohe Bildqualität. HITACHI S-3000 kommt mit einer Reihe von Betriebsarten, einschließlich Hellfeld, Dunkelfeld, zurück gestreute Elektronen und Phasenkontrast Bildgebung. Es hat eine maximale Scanfläche von bis zu 45mm und ermöglicht variable Skalierungen und Probendrehungen, so dass Benutzer eine breite Palette von Funktionen genauer untersuchen können. Eine seitlich angebrachte Objektivlinse ermöglicht eine größere Flexibilität bei der Untersuchung von Probenmerkmalen aus nächster Nähe. Neben dem regulären CCD-Echtzeit-Bildgebungssystem verfügt S-3000 auch über eine optionale Digital Iris Charge-Coupled Device (CCD) -Kamera zur Analyse nichtleitender Proben. Diese Funktion umfasst erweiterte Funktionen wie zerstörungsfreie Bildgebung, automatisierte digitale Bildstigmen und hocheffiziente Stabilisierungssteuerung. HITACHI S-3000 bietet eine breite Palette von Scan- und Analysefunktionen und ist damit eine gute Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen. Es bietet vielseitige Bildgebung einer breiten Palette von Proben, von biologischen Proben bis zu industriellen Proben, um bei detaillierten Untersuchungen von Proben aller Größen zu helfen. Von hochauflösender Bildgebung bis hin zu Umweltstudien unter extremen Bedingungen bietet dieses vielseitige SEM die nötige Vielseitigkeit und Leistung.