Gebraucht HITACHI S-3000H #293596949 zu verkaufen

HITACHI S-3000H ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für verbesserte Leistung und ultrahochauflösende Bildgebung von Materialien auf Nanometerebene entwickelt wurde. Es ist speziell für Halbleiter- und Hochdichteschaltungsanwendungen konzipiert und bietet eine optimierte Bildgebung für eine Vielzahl von Proben. HITACHI S 3000 H verfügt über einen In-Column-Energiefilter und eine hybride bildgebende Ausrüstung, die sowohl Sekundärelektronen- als auch rückgestreute Elektronenbildgebung bietet. Dieses System ist in der Lage, sehr hochauflösende Bilder der Oberfläche und Unterfläche eines Materials zu erfassen, das für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden kann, einschließlich elektrischer, elektronischer, chemischer, metallurgischer und biomedizinischer Forschung. S-3000H besteht aus vier Hauptkomponenten: einer Rasterelektronensäule, einer Fokussierlinse, einem Spaltenenergiefilter und einem Detektor. Die Rasterelektronensäule verwendet eine aluminisierte Probenkammer und verfügt über eine Elektroneneinheit mit hohem Winkel, damit das Gerät die Oberfläche der Probe genau abtasten kann. Darüber hinaus ist diese Maschine mit einem großen variablen Sichtfeld ausgestattet, das eine schnelle Bildgebung und eine sehr stabile Strahlform ermöglicht. Die Fokussierlinse ist für geringe Aberration optimiert und soll chromatische und sphärische Aberrationen reduzieren. Dadurch wird sichergestellt, dass hochauflösende Bilder mit minimaler Verzerrung erzeugt werden können. Der In-Column-Energiefilter nutzt die Elektronenenergie, mit der die Probe gescannt wird. Diese Energie kann gesteuert werden, um verschiedene Betriebsarten auf der Probenoberfläche zu analysieren, wie die energiedispersive röntgenspektroskopische Analyse (EDX) und die sekundäre Elektronenbildgebung. Diese Modi ermöglichen S 3000 H, die Zusammensetzung verschiedener Komponenten sowie die Mikrostruktur der Probe mit hoher Genauigkeit zu visualisieren und zu untersuchen. Ferner ist der Detektor in der Lage, von der Probenoberfläche zurückgestreute Elektronen zu detektieren und qualitativ hochwertige Bilder derselben zu erzeugen. HITACHI S-3000H ist auch mit einem sehr einstellbaren optischen Werkzeug ausgestattet, das seine Genauigkeit und Auflösung erhöht. Diese optische Ausstattung ermöglicht die Anpassung der Spotgröße von 1000 nm bis 10 μ m und der Schärfentiefe von 5 nm bis 15 μ m. Darüber hinaus kann das Gerät auch eine numerische Apertur von bis zu 0,6 erreichen, was die Genauigkeit von Abbildungssystemen auf Nanometerniveau weiter erhöht. Die Kombination aus dem In-Column-Energiefilter, dem einstellbaren optischen Modell und dem fortschrittlichen Detektor bietet HITACHI S 3000 H eine verbesserte Auflösung, die es ermöglicht, Bilder mit einer Auflösung von bis zu einem Nanometer zu erzeugen. Abschließend bietet S-3000H Rasterelektronenmikroskop eine sehr fortschrittliche Bildgebung, die sich ideal für eine Vielzahl von Forschungen und Analysen von Materialmerkmalen im Nanometermaßstab eignet. Sein In-Column-Energiefilter und seine einstellbare optische Ausrüstung bieten S 3000 H mit einer Auflösung von bis zu einem Nanometer und machen es ideal für die detaillierte Bildgebung und Analyse von Oberflächen- und Untergrundeigenschaften in einer Vielzahl von Anwendungen.