Gebraucht HITACHI S-3000H #293597903 zu verkaufen
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ID: 293597903
Weinlese: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Tungsten gun
EDS Type: LN2
SE Detector: High
Magnification range: 300.000x
Operating system:
SEM: Windows XP
EDS: Windows XP
2010 vintage.
HITACHI S-3000H Scanning Electron Microscope ist ein hochauflösendes, weiträumiges Bildgebungsgerät mit leistungsstarker Optik, ausgestattet mit fortschrittlichen Elektronendetektionssystemen. Mit der Kombination aus fortschrittlicher elektronischer Bildgebungstechnologie und leistungsstarker Optik wurde HITACHI S 3000 H entwickelt, um eine detaillierte ultrahochauflösende Abbildung von Proben in extrem kurzer Zeit zu ermöglichen. S-3000H verfügt über eine hochauflösende Feldemissionselektronensäule mit einer Beschleunigungsspannung im Bereich von 0,5 keV bis 30 keV. Der hochauflösende Detektor ist in der Lage, die Detektionsempfindlichkeit zu erhöhen und Bildrauschen zu reduzieren. Die Probenstufe kann von 10 x bis 90 x Vergrößerung abgetastet werden. Ein integriertes Strahlausrichtungssystem bietet einen einstellbaren Strahlkonvergierwinkel, der eine ideale Probenoberfläche für die Bildgebung gewährleistet. Das fortschrittliche Stufensystem ermöglicht eine schnelle Probenabtastung im Direct-View-Modus, was eine gleichmäßige Bestrahlung über die Probe in kürzerer Zeit als herkömmliche Methoden ermöglicht. Dies reduziert Vibrationseffekte und sorgt für gute Stabilität und Gleichmäßigkeit beim Scannen. Darüber hinaus ermöglicht seine große Apertur sowohl eine Objekt-zu-Objekt-t als auch eine Muster-zu-Hintergrund-Bildgebung. Die leistungsstarke Optik von S 3000 H ermöglicht eine klare Abbildung von Partikeln bis zu 0,1 µm und ist damit ein ideales Instrument, um verschiedene Bereiche der Materialwissenschaft wie materialbasierte Mikrostrukturen, Komponenten einer Legierung und verschiedene Phasen eines Materials zu untersuchen. Darüber hinaus bietet HITACHI S-3000H einen großen Vorteil bei der Analyse von Partikeln, Verunreinigungen und Fehleranalysen. Insgesamt ist das HITACHI S 3000 H Scanning Electron Microscope das perfekte Werkzeug für hochauflösende Bildgebung und mikroskopische Analyse. Es bietet überlegene Bildqualität, erhöhte Bildauflösung und -empfindlichkeit sowie geringe Wartungsanforderungen. Ausgestattet mit fortschrittlichen Elektronendetektionssystemen ermöglicht es eine detaillierte Untersuchung einer Vielzahl von Proben auf schnellere und einfachere Weise.
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