Gebraucht HITACHI S-3000H #9235998 zu verkaufen
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ID: 9235998
Weinlese: 2005
Scanning Electron Microscope (SEM)
Operating system: Windows XP
Manual included
2005 vintage.
HITACHI S-3000H Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein digitales Mikroskop, das für Hochleistungs-Bildgebung und -Analyse mit einer breiten Palette von Materialien, einschließlich biologischer Materie, entwickelt wurde. Dieses SEM-Modell ist aufgrund seiner hohen Empfindlichkeit in der Lage, eine große Bandbreite von Signalen aus chemischen und physikalischen Phänomenen zu erfassen. Es verfügt über eine neu entwickelte Elektronenquelle mit hoher thermischer Stabilität, die einen stabilen Betrieb und eine ausgezeichnete Bildauflösung bietet. Dieses SEM bietet Funktionen, die aufgrund seiner kurzen Pulsbreite für eine Vielzahl von Beispielumgebungen optimiert sind und die beste Kombination aus Bildauflösung und minimalem Probenschaden bieten. HITACHI S 3000 H ist mit einer Niedervakuum-Kaltfeld-Emissionskanone (CFEG) ausgestattet, die eine extrem hohe Empfindlichkeit und Stabilität bei den mikroelektrischen Messungen in S-3000H bietet. Das CFEG ermöglicht eine empfindlichere, empfindlichere Probenbildgebung und eine überlegene Bildauflösung, da die emittierten Elektronen aus dem CFEG-Fokus an einem sehr kleinen Punkt zu einer starken Auflösungsleistung beitragen. Darüber hinaus können verschiedene Zubehörteile auf S 3000 H hinzugefügt werden; dazu gehören energiedispersive Röntgenspektrometer (EDS) -Fähigkeiten, ein hochauflösender hochauflösender spektraler Abbildungsdetektor für die Elektronenrückstreuung (EBI) und ein Inlinsen-Sekundärelektronendetektor (SE). Die fortschrittlichen bildgebenden Fähigkeiten von HITACHI S-3000H gehen weitgehend auf die atomare Präzision zurück, die durch die Kombination von verbessertem Detektionssystem und variablen Primärfeldbildgebungsfähigkeiten erreicht wird. Dieses SEM bietet ultrahochauflösende Bildgebung bei nur 2.000-facher Vergrößerung und vergrößert Licht ohne Verformung von Linsen. Darüber hinaus bietet HITACHI S 3000 H hervorragende Signalverarbeitungsfunktionen für eine beschleunigte, genaue Analyse durch seinen eingebauten Computer und seine Software. S-3000H ist unter Berücksichtigung der Anwendersicherheit mit einem Ionenmessgerät zum Probenschutz vor dem Elektronenstrahl hoher Intensität ausgestattet. Sein externes Schild wurde entworfen, um das gesamte Mikroskop-Setup vollständig einzuschließen, um die Sicherheit und Bequemlichkeit des Bedieners zu erhöhen. Darüber hinaus verfügt dieses Mikroskop über einen integrierten Ionenmesser, der den Vakuumpegel im Instrument überwacht, und einen Timer, der sicherstellt, dass der primäre Waffenstrom angehalten wird, falls der Ionenmesser ausfällt. Das S 3000 H Rasterelektronenmikroskopmodell ist die erste Wahl für Wissenschaftler und Forscher, die ihre Arbeit auf das nächste Level heben möchten und ein leistungsstarkes, zuverlässiges und sicheres Instrument für Bildgebung und Analyse bieten. Seine leistungsstarke Auflösung, seine variablen Primärfeld-Bildgebungsfunktionen und sein vielseitiges Software- und Erkennungssystem machen es zum perfekten Werkzeug für die moderne Forschung.
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