Gebraucht HITACHI S-3000H #9236136 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 9236136
Weinlese: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM)
Secondary electron image resolution: 3.5 nm High vacuum mode
Reflected electron image resolution: 4.5 nm Low vacuum mode
Magnification: 15x~300,000x (65 Stages)
Electron optical system:
Filament:
Pre-center type
Tungsten hairpin
Gun bias with fixed bias
Gun alignment: Electromagnetic two-stage deflection
Condenser lens: Electromagnetic two-stage
Objective lens: Super conical lens
Objective lens diaphragm: 4 Holes movable
Astigmatism correction: Electromagnetic 8 poles
Image shift: ±20um (W.D: 15mm)
Accelerating voltage:
0.3~30kV (1171 Stages)
0.3~9.99kV (10V Step)
10~30kV (0.1kV Step)
Illumination current: 1012~10-7A
2006 vintage.
HITACHI S-3000H ist ein ausgeklügeltes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ausgiebig in der Materialforschung eingesetzt wird. Dieses Mikroskop ist ein Feldemissionstyp, d.h. es verwendet einen Elektronenstrahl, der durch Feldemission eines Wolframemitters erzeugt wird, um ein Bild zu bilden. Es ist ein Hochleistungs-SEM mit hoher Auflösung und Vergrößerung. HITACHI S 3000 H ist mit einer großen Kammer ausgestattet, die eine breite Palette von Analysen ermöglicht. Die Kammer selbst hat eine maximale Größe von 150 mm Durchmesser und 200 mm Tiefe, so dass ein großer Arbeitsraum für Proben gescannt werden kann. Das Mikroskop ist so konzipiert, dass es Oberflächen mit Auflösungen von bis zu 30 nm mit Vergrößerungen von 8x bis 250.000x scannen kann. Es wird durch eine automatisierte Stufe ergänzt, die es Benutzern ermöglicht, hochauflösende Bilder extrem schnell zu erzeugen. S-3000H hat auch einen niedrigen Beschleunigungsspannungsbereich, der eine breite Palette von Funktionsmöglichkeiten ermöglicht. Dazu gehören die Untersuchung der Oberflächenstruktur und elementaren Zusammensetzung, die Sondierung der Oberfläche einer Probe mit verschiedenen Strahlen wie Röntgenstrahlen und Niederspannungs-SEM-Bildgebung. Um die Effizienz des bildgebenden Prozesses zu erhöhen, ist S 3000 H mit einer Reihe fortschrittlicher Technologien wie der variablen Druckelektronenmikroskopie (VPE) und der Umgebungsrasterelektronenmikroskopie (ESEM) ausgestattet. Diese Technologien helfen, die Qualität der vom Mikroskop erzeugten Bilder zu verbessern, was eine höhere Auflösung ermöglicht. Im Hinblick auf die Sicherheit ist HITACHI S-3000H mit einer Verriegelungseinrichtung ausgelegt, die die mit dem Betrieb eines so leistungsstarken Instruments verbundenen Risiken minimiert. Das System erkennt und schaltet die Elektronenkanone ab, wenn einer der Sicherheitsparameter von den voreingestellten Werten abweicht. Um sicherzustellen, dass Daten gespeichert und sicher aufbewahrt werden, verfügt es über eine interne Datenspeichereinheit, die einzigartig für HITACHI S 3000 H ist. Es gibt einen Onboard-Computer, der bis zu 1 TB Daten mit Optionen speichern kann, um Daten auf externen Speichergeräten oder einem dedizierten Server zu sichern. Insgesamt ist S-3000H ein ausgeklügeltes Rasterelektronenmikroskop, das mit leistungsstarken bildgebenden Funktionen ausgelegt ist. Es verfügt über eine große Arbeitskammer, die eine breite Palette von Probenanalysen und einen niedrigen Beschleunigungsspannungsbereich ermöglicht, der für verschiedene Abbildungsarten geeignet ist. Es ist mit einer Verriegelungsmaschine für Sicherheit und zuverlässige Datenspeicherung ausgestattet und ist somit eine ideale Wahl für die Materialforschung.
Es liegen noch keine Bewertungen vor