Gebraucht HITACHI S-3000H #9309415 zu verkaufen

HITACHI S-3000H
ID: 9309415
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3000H ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende Bilder von Proben im nanometrischen Maßstab liefert. Dieses Instrument verwendet einen fokussierten Elektronenstrahl, um die Oberfläche einer Probe zu scannen, um ein sehr detailliertes Bild zu erzeugen. Dieses SEM wurde dem Design des beliebten SEM, dem S-3000N, nachempfunden und ist in hohem Maße aufrüstbar, um seine Scangenauigkeit und -auflösung bei Bedarf zu verbessern. Es verfügt auch über eine intuitive Benutzeroberfläche, die die Durchführung von Rasterelektronenmikroskopie-Prozessen effizient und einfach macht. Dieses SEM nutzt einen hochenergetischen Elektronenstrahl, um direkt mit der Probe zu interagieren und eine Vielzahl von Signalen zu erzeugen, wie Sekundärelektronen, rückgestreute Elektronen und das Röntgenspektrum. Dies hilft, realistische Zusammensetzung Informationen zu liefern, die andere optische Mikroskope nicht erkennen können. HITACHI S 3000 H hat auch hohe Abbildungsgeschwindigkeiten und kann sowohl für Hochtemperatur- als auch für Tieftemperaturscannen verwendet werden. Die Mikroanalyse-Fähigkeiten von S-3000H machen es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen, wie Materialwissenschaft, medizinische Wissenschaft, Forschung und Entwicklung und allgemeine mikroskopische Analyse. Es kann verwendet werden, um die Mikrostruktur einer Probe zu analysieren, ihre elektrischen und mechanischen Eigenschaften zu messen und Fehler in ihren Oberflächenschichten zu erkennen. Dieses SEM hat eine maximale Auflösung von bis zu 1 nm, so dass Sie ein hochgenaues Bild erzielen können, ohne die Strahlspannung erhöhen zu müssen, was die Probe sehr schädigen kann. Darüber hinaus ist dieses Mikroskop mit einer Autofokussierungsfunktion ausgestattet, die den Brennpunkt bei Bedarf einstellt, wodurch Verzerrungen des Bildes verhindert werden, die durch Fehlausrichtung auftreten können. S 3000 H kann auch als variables Drucksystem konfiguriert werden. Diese Funktion senkt das Risiko der Oberflächenaufladung und erhöht die Bildgebungsleistung des SEM, wenn die Oberfläche der Probe empfindlich ist oder wenn die Probenumgebung variabel ist. Schließlich ist HITACHI S-3000H auch mit einem energiereduzierenden Filter ausgestattet, der schädliche ionisierende Strahlung daran hindert, in die Umgebung einzudringen oder die Proben zu beeinflussen. Dies erhöht die Betriebssicherheit des Geräts und reduziert die Umweltbelastung durch dessen Nutzung.
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