Gebraucht HITACHI S-3000N #293668111 zu verkaufen

HITACHI S-3000N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich gut für die allgemeine Materialanalyse eignet. Dieses Instrument ist mit einem High-Performance Everhart-Thornley Typ Sekundärelektron (SE) Detektor ausgestattet, so dass Bilder mit außergewöhnlicher Qualität und Detail. HITACHI S-3000 N ist auch mit einer Elektronenstrahlsäule ausgestattet, die für den Betrieb in einem weiten Bereich von beschleunigenden Spannungsausgängen von 0,5 bis 30 kV ausgelegt ist. Mit diesem Angebot können Forscher eine Vielzahl von Materialien untersuchen, darunter sowohl organische als auch anorganische Proben. S 3000 N verfügt außerdem über einen optionalen Rückstreuelektronendetektor (BSD), mit dem Forscher Oberflächeneigenschaften verschiedener Proben untersuchen können. Diese fortschrittliche Elektronenoptik-Ausrüstung ist in der Lage, leistungsstarke Vergrößerungsfunktionen zu bieten und gleichzeitig eine ausgezeichnete Bildauflösung zu erhalten, sodass Forscher auch kleine Details in ihren Proben genau visualisieren können. Darüber hinaus ermöglicht das ausgeklügelte Elektronensäulendesign dem Anwender präzise Anpassungen der Strahlfleckgröße von einer kleinsten Punktgröße von 1,7 nm bis 30 nm, wodurch eine Vielzahl von Proben detailliert untersucht werden können. HITACHI S 3000 N verfügt auch über eine breite Palette von Probenkammern und Zubehör, wie eine Standardprobe Stummel, Probe Neigung, Probe Bracker, und Probenstufe. Die integrierte Probenkammer ermöglicht eine einfache Beladung und Manipulation einer Vielzahl von Proben, wobei eine verbesserte Probenautomatisierung zu konsistenteren und genaueren Ergebnissen führt. Darüber hinaus ist die Kammer mit zwei großbohrenden Probenhaltern ausgestattet, die den Einbau mehrerer Probenhalter gleichzeitig ermöglichen. S-3000N ist auch entworfen, um eine ausgezeichnete Messgenauigkeit mit einem linearmotorischen Antriebssystem für die XY-Stufensteuerung mit einer minimalen Erhöhung von einigen Nanometern zu erhalten. Zusätzlich ist das Gerät mit einer Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) ausgestattet, die auch im niedrigen kV-Bereich ein Sichtfeld mit beeindruckender Bildauflösung erzeugen kann. S-3000 N kann eine gute Fokusstabilität auf Proben erreichen, mit einer Fokusstabilitätsmanagementmaschine, die eine hochstabile Probenbildumgebung ermöglicht. Dieses Werkzeug verfolgt und kompensiert Änderungen der Probenposition genau, was zu einer Vielzahl von wiederholbaren Bildern ohne häufige Anpassungen führt. Erwähnenswert sind auch die elektronischen und Software-Aspekte der HITACHI- S-3000N. Die Software bietet nicht nur eine intuitive Benutzeroberfläche und eine breite Palette von Analysetools, sondern ist auch zur Datenerfassung über USB/RS232 Schnittstellen in der Lage und vollständig mit PC-Systemen kompatibel. Alles in allem ist HITACHI S-3000 N eine gute Wahl für Forscher, die nach einem hochwertigen SEM suchen, das eine Vielzahl von Funktionen und Fähigkeiten bietet.