Gebraucht HITACHI S-3000N #293732535 zu verkaufen

HITACHI S-3000N
ID: 293732535
Weinlese: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM) (2) RV12 Rotary pumps Detectors: SE (ET) and BSE (solid state) High vacuum and VP Mode 5-Axes motorized stage: 50x,100x PC Operating system: Windows XP Power supply: 230-100 V 2002 vintage.
HITACHI S-3000N ist ein vielseitiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), das zur Abbildung hochauflösender Bilder sowohl von lebenden Proben als auch von Proben unter Reinraumbedingungen entwickelt wurde. Es ist in der Lage, Vergrößerungen bis zu 300.000x und verfügt über ein großes Sichtfeld, so dass es ideal für die Beobachtung und Analyse von nanoskaligen Strukturen. HITACHI S-3000 N bietet eine Auflösung von 0,7 Nanometern für hochauflösende Bildgebung. Sein schlankes Design verfügt über eine interaktive Benutzeroberfläche für einfache Bedienung, mit einer Vielzahl von Scan-Modi, die jedem Experiment entsprechen. Dazu gehören sekundäre Elektronenbildgebung und ausgewählte Flächenelektronenbeugung. S 3000 N ist mit einem rückgestreuten Elektronendetektor (BSD) und einem energiedispersiven Spektrometer (EDS) ausgestattet, damit Forscher die Zusammensetzung von Partikeln oder Regionen auf der Oberfläche einer Probe beurteilen können. Die Detektoren, zusammen mit der Option Kathodolumineszenz (CL), ermöglichen es Forschern, mit hoher Genauigkeit subtile Variationen in Zusammensetzung und Topographie zu identifizieren. HITACHI S 3000 N beinhaltet auch eine breite Palette von analytischen Fähigkeiten. Die hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie (HR-STEM) ermöglicht die Analyse der inneren Struktur von Objekten, während die Elektronen-Backscatter-Beugung (EBSD) zur qualitativen und quantitativen Analyse kristalliner Eigenschaften verwendet werden kann. S-3000N können auch mit einer Reihe von Zubehör angepasst werden, von der Stufenautomatisierung über Vakuumkammern bis hin zu Detektoren für Live-Musteranwendungen. Die geräumige 80mm Probenkammer ermöglicht die Verarbeitung einer Vielzahl von Probengrößen und -formen. S-3000 N bietet Hochdurchsatz-Bildgebungsfunktionen, so dass eine große Anzahl von Proben schnell und genau gescannt werden kann. Das SEM kann an eine Ereignissteuerung und ein Überwachungssystem angeschlossen werden, um den Betrieb zu automatisieren und einen hohen Datendurchsatz zu gewährleisten. Darüber hinaus enthält HITACHI S-3000N eine Vibrationssteuereinheit, um Störungen und Verzerrungen in Bildern und Scans zu beseitigen. Dies wird durch Verwendung einer Isolationstabelle, eines TV-Scan-Controllers und einer Nicht-Vakuum-Ortungsmaschine erreicht. Das SEM bietet ein beeindruckendes Spektrum an bildgebenden und analytischen Funktionen. Seine Vielseitigkeit, Qualität und sein Wert machen HITACHI S-3000 N zu einer überzeugenden Wahl für Forscher und Wissenschaftler auf verschiedenen Gebieten.
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