Gebraucht HITACHI S-3000N #293814952 zu verkaufen

HITACHI S-3000N
ID: 293814952
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-3000N Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsfähiges Werkzeug für die Analyse einer Reihe von Materialien vom Nano- bis zum Makroregime. Es kombiniert die Leistung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) mit der Vielseitigkeit eines Rasterübertragungselektronenmikroskops (TEM) zu einem umfassenden und tragbaren Paket. Das Mikroskop verfügt über eine integrierte 3-Achsen-motorisierte Stufe, eine hochauflösende Feldemissionskanone, einen hochempfindlichen Elektronendetektor und ein automatisiertes Bilderfassungssystem. Diese Kombination von Funktionen ermöglicht eine breite Palette von analytischen Techniken und bildgebenden Funktionen. HITACHI S-3000 N hat eine einzigartige, vertikale Achsen-Richtung Design, so dass es in verschiedenen objektiven Winkeln mit Genauigkeit und Leichtigkeit voreingestellt werden. Die Neigungs- und Drehstufen sind mit Zenit- und Axial-Scan-Fähigkeiten ausgestattet, mit denen große, flache Proben oder kleine, tiefe Rillen und poröse Materialien schnell gescannt werden können. Die variable Beschleunigungsspannung erzeugt eine Reihe von Elektronenkonzentrationen und -energien, so dass Benutzer verschiedene Aspekte der Materialstruktur mit detaillierter Genauigkeit beobachten und analysieren können. S 3000 N ist mit einer direkten Erkennung Digitalkamera ausgestattet, die Bildauflösung bis zu 10.000 X und Bildraten bis zu 10 fps kontinuierlich bei voller Scan-Größe. Die Kamera kann für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden, einschließlich Bildgebung für Fehler- und Topographieanalyse, 3D-Bewegungsverfolgung und Bildmosaikierung. Die mitgelieferte Software kann zur Durchführung fortschrittlicher statistischer, automatisierter und 3D-Plottfunktionen verwendet werden, um die Morphologie von Proben zu beobachten. S-3000 N ist mit einer einzigen Quelle für Niedertemperaturabscheidung (Low-Temperature Deposition, LTD) ausgestattet, so dass Benutzer einheitliche Materialschichten in situ ablegen können. Diese Quelle kann verwendet werden, um Beschichtungen mit unterschiedlichen Brechungsindizes und differentieller Erwärmung und Kühlung ausgewählter Bereiche auf der Probe aufzubringen, was eine genauere und detailliertere Analyse von Materialien ermöglicht. Das Mikroskop verfügt auch über zwei Gaseinlässe für Gas-Mikroexposition, so dass es ideal für fortgeschrittene In-situ-Forschung. HITACHI S 3000 N ist mit einem mobilen Wagen, einem Luftkühlmechanismus und einer optionalen Dunstabzugshaube ausgestattet, sodass der Transport und die Installation in Labors mit begrenztem Platzangebot einfach sind. Die integrierten Elektronik-, Optik- und Softwaremodule machen S-3000N zu einem wertvollen Werkzeug für die Analyse von Materialien auf Nano- und Mikroskalen.
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