Gebraucht HITACHI S-3000N #9156366 zu verkaufen

HITACHI S-3000N ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Vielzahl von bildgebenden Aufgaben erfüllt. Es ist in der Lage, Materialien mit einer Größe von bis zu 1,0 nm zu scannen, abzubilden und zu manipulieren. Die Elektronenkanone des Mikroskops erzeugt einen Hochleistungsstrahl aus Elektronen, der dann fokussiert und über die Probe gescannt wird, um ein detailliertes virtuelles Bild zu erzeugen. Die Probe wird dann dem Elektronenstrahl ausgesetzt, der mit den Elektronen in der Probe wechselwirkt und ein Signal erzeugt, das von einem digitalen Abbildungssystem detektiert wird. HITACHI S-3000 N verfügt über ein eingebautes Scansystem, das eine kurze Akquisitions- und Analysezeit ermöglicht. Es verfügt über einen digitalen Signalprozessor (DSP), der neben einem Bildsensor arbeitet, um Bilddaten mit einer Auflösung von bis zu 0,3 nm bereitzustellen. Dadurch kann der Anwender extrem kleine Funktionen abbilden und analysieren, die mit Standard-SEMs schwer zu unterscheiden sind. S 3000 N verfügt über eine breite Palette von Fähigkeiten zur Charakterisierung von Kristallen und Nanostrukturen. Seine erweiterten Analysefunktionen ermöglichen die Charakterisierung von Kristallstruktur, Oberflächenmorphologie und kompositorischen Informationen. Das SEM beinhaltet einen hochauflösenden (HR) Detektor, der eine verbesserte Sekundärelektronenempfindlichkeit für die Analyse sehr kleiner Merkmale bietet. Der HR-Detektor bietet außerdem einen verbesserten Kontrast und eine verbesserte Bildtiefe, wodurch Benutzer versteckte Funktionen wie Risse, Lücken und Kratzer identifizieren können. Zusätzlich zu seinen bildgebenden Funktionen verfügt S-3000 N über fokussierte Ionenstrahlfunktionen (FIB). Die FIB-Technologie ermöglicht es dem Benutzer, eine Probenoberfläche durch direktes Schreiben, Ätzen und Abscheiden von Ionen zu modifizieren und zu bearbeiten. Dadurch können sie schnell reinigen, modifizieren und feine Merkmale in der Probe charakterisieren. Mit dem FIB-Tool kann der Anwender auch die spektrale und chemische Zusammensetzung der Probe mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) analysieren. S-3000N kommt auch mit einer Vielzahl von verschiedenen Stufen und Haltern, die den Benutzer eine geeignete Orientierung und Umweltbedingungen für ihre Probe auswählen können. Diese Stufen und Halter umfassen motorisierte, dreiachsige (x, y und z) Stufen sowie Niedervakuumstufen, die auf eine Maximierung der SEM-Effizienz ausgelegt sind, so dass der Benutzer schnell große Flächen erwerben kann. Insgesamt ist HITACHI S 3000 N ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das detaillierte Bilder von sehr kleinen Objekten und Strukturen liefern kann. Seine hohe Vergrößerung und sein breites Spektrum an Analysefunktionen machen es zu einer idealen Wahl für Wissenschaftler, die die Nanowelt studieren und erforschen.