Gebraucht HITACHI S-3000N #9169037 zu verkaufen
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ID: 9169037
Weinlese: 2004
Field emission scanning electron microscope (FE-SEM)
P/N: 03E-0601
2004 vintage.
HITACHI S-3000N ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Dieses Mikroskop ist das neueste und fortschrittlichste HITACHI-Modell, das hervorragende Bildgebungsfunktionen bietet. Es ist in der Lage Mikrographen mit hervorragender Auflösung, hohem Kontrast und wahrer Farbwiedergabe zu erzeugen. Dieses Mikroskop verwendet eine Feldemissionselektronenkanone, die einen fokussierten Elektronenstrahl mit hoher Stromdichte erzeugt und bis zu 10kV Beschleunigungsspannung mit variablem Fokus bereitstellen kann. Dieser Elektronenstrahl wird über eine Oberfläche abgetastet, wobei ein Detektor die Sammlung von Sekundärelektronen, rückgestreuten Elektronen und charakteristischen Röntgenstrahlen ermöglicht, die von der Probe erzeugt werden. Die resultierenden Bilder ermöglichen die Analyse und Identifizierung von Merkmalen, Elementen und Zusammensetzung einer Probe. HITACHI S-3000 N verfügt über eine vollautomatisierte große Vakuumkammer und verfügt über eine Autofokus-Funktion, die eine überlegene Bildklarheit bei niedrigen und hohen Vergrößerungen ermöglicht. Es verfügt über eine Reihe von benutzerfreundlichen Funktionen und Scanmodi, so dass es ein optimales Instrument für die Durchführung von Elektronenmikroskopie-Experimenten. Dieses Mikroskop verfügt zudem über ein integriertes Mikroanalysesystem, das Röntgenspektroskopie, energiedispersive Spektroskopie (EDS) und Wellenlängen-Dispersionsspektroskopie (WDS) ermöglicht. Die hohe Auflösung und Vielseitigkeit dieses Rasterelektronenmikroskops machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen. Es ist in der Lage, geometrische Strukturen und mikroskopische Defekte in festen Materialien, einschließlich Metallen, Keramiken, Verbundwerkstoffen und Halbleitern, sowie biologische Proben wie Zellen, Mikroorganismen und Pflanzenmaterial zu beobachten. Insgesamt ist S 3000 N ein ausgezeichnetes Rasterelektronenmikroskop, das hervorragende Bildgebung mit vielseitigen ergänzenden Analysewerkzeugen kombiniert. Seine Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit machen es ideal für den Einsatz in vielen verschiedenen Forschungseinstellungen.
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