Gebraucht HITACHI S-3000N #9171724 zu verkaufen

HITACHI S-3000N ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen in der Halbleiter- und Materialforschung entwickelt wurde. HITACHI S-3000 N verfügt über modernste Elektronenoptik, Detektortechnologie und Software, um hochauflösende Bildgebung und Analysefähigkeit zu ermöglichen. Es verfügt über eine Säule mit modernster Elektronenoptik und einen hochpräzisen rauscharmen Abtastgenerator, der eine hochauflösende Bildgebung und Analysefähigkeit für große Proben bis 120 mm bietet. Eine variable Stufe ermöglicht die Abbildung von Proben variabler Abmessungen. S 3000 N verfügt auch über ein innovatives „Health Monitor“ -System, das die Leistungsstufen des SEM überwacht, um sicherzustellen, dass es eine optimale Leistung beibehält. Dieses System kann Leistungsniveaus im Laufe der Zeit verfolgen und den Benutzer benachrichtigen, wenn Wartung erforderlich ist. Es wird auch mit einer Reihe von Softwarepaketen geliefert, um eine erweiterte Analyse von Materialien zu ermöglichen, einschließlich Elektronenbeugungsanalysen, um detaillierte Informationen über Kristallstrukturen bereitzustellen; energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) zur Identifizierung der elementaren Zusammensetzung; und Elektronenrückstreubeugung (EBSD), um die kristallographische Orientierung von Materialien zu messen. Darüber hinaus verfügt es über ein „LiveView“ -System, das es dem Benutzer ermöglicht, eine Reihe von Bildern in Echtzeit anzuzeigen, während sie erfasst werden, was eine schnelle Analyse und Rückmeldung ermöglicht. S-3000 N ist ein fortschrittliches und vielseitiges Werkzeug für die Untersuchung von Materialien, bietet hochauflösende Bildgebung, Analysefähigkeit und schnelle Reaktion für große und kleine Proben. Mit einer intuitiven Benutzeroberfläche und einer Reihe fortschrittlicher Funktionen bietet S-3000N Wissenschaftlern ein unvergleichliches Maß an Kontrolle und Präzision.