Gebraucht HITACHI S-3000N #9176872 zu verkaufen

HITACHI S-3000N Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist eine fortschrittliche Bildgebungs- und Analyseausrüstung, die für überlegene Leistung in einer Reihe von Forschungs- und Industrieanwendungen entwickelt wurde. Das System kombiniert eine große Kammer, verbesserte Stabilität und Abschirmung und eine Vielzahl von Funktionen, die für eine sorgfältige, genaue Bildgebung, Analyse und Bewertung entwickelt wurden. Das SEM hat einen beschleunigten Spannungsbereich von 5 kV bis 30 kV und ermöglicht die Beobachtung von Probenmerkmalen von nanoskalig bis mikroskalig. Die Probenkammer verfügt über einen großen Inspektionsraum (250 x 250 mm) und fortgeschrittene, geräuscharme Drehscheiben für Stufendrehung und Probentransfer. Diese Funktionen bieten eine stabile und zuverlässige Leistung, so dass Benutzer mit größeren Sichtfeldern arbeiten und komplexe Details beobachten können. Die fortschrittliche bildgebende Einheit verwendet ein patentiertes Wolframfadendesign und langlebige Schilde, um das SEM vor Drift zu schützen und die Haltbarkeit der Maschine zu erhöhen. Darüber hinaus behält das Tool eine hochauflösende Vergrößerung bis zu 5,000X bei und eignet sich somit für detaillierte Studien und komplizierte Proben. Die eingebaute Software umfasst auch eine Reihe von Werkzeugsätzen, wie Bildregistrierung und Bildnahtsoftware, von denen Benutzer 3D-Bilder ihrer Proben erstellen können. Mit dieser Fähigkeit können Anwender detaillierte genaue Bilder erstellen und die Oberflächentopographie ihrer Proben überwachen. HITACHI S-3000 N ist auch mit einer Vielzahl von Analysefunktionen ausgestattet, einschließlich Elementaranalyse und Röntgenmapping. Es ist so konzipiert, dass Benutzer eine schnelle, genaue Charakterisierung der internen Struktur der Probe und feine Details durchführen können. Darüber hinaus macht die integrierte HITACHI E-SEM Software-Suite das Asset einfach zu bedienen, da es den Anwenderbetrieb von der Probenvorbereitung bis zur Berichterstattung über Analyseergebnisse optimiert. Diese Software ermöglicht es Benutzern, das Modell effizient und einfach zu steuern. Insgesamt kombiniert das S 3000 N Rasterelektronenmikroskop Präzision und Leistung, damit Benutzer ihre Proben bis ins kleinste Detail beobachten und analysieren können. Mit seiner überlegenen Abschirmung und überlegenen bildgebenden Fähigkeiten ist diese leistungsstarke Ausrüstung ein unschätzbares Werkzeug für Forscher, Industrielle und andere Fachleute, die mit einer breiten Palette von Materialien arbeiten.