Gebraucht HITACHI S-3000N #9208239 zu verkaufen

ID: 9208239
Weinlese: 2000
Scanning Electron Microscope (SEM) Option: W4010 Water chiller Magnification: 15x to 300000x (143 steps) Resolution: Secondary electron image resolution: 3.0 nm (Vacc 25 kV, high vacuum mode) Back-scattered electron image resolution: 4.5 nm (Vacc 25 kV, variable pressure mode) Voltage: 0.3 - 30 kV Specimen size: 150 mm Diameter maximum View monitor: 17" LCD Type Operation: Mouse and sub control pad PC: PC/AT Compatible Operating system: Windows NT Electron gun: W (Tungsten) Hairpin type Stages: X-Axis: 0 - 100 mm Y-Axis: 0 - 50 mm Z-Axis: 5 - 40 mm Tilt: -5 ~ +60° Rotation: 360° (Non step) Vacuum pumps: (2) Rotary pumps Diffusion pump (2) HITACHI CuteVac VR16L-K Rotary pumps Control system: TV Fast mode TV Flow mode 1-4 Step slow mode Reduce mode Power / Utility: PCW: 1-1.5 liter/min Pressure: 0.5-1 kg/cm³ Pressure dry air (PDA): 5 kg/cm³ AC 100 V, Single phase, 5 kVA within GND 2000 vintage.
HITACHI S-3000N ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) für den Einsatz in der fortgeschrittenen Materialforschung und -analyse. Das Mikroskop ist mit einer hochauflösenden Flachfeldoptik ausgestattet, die eine Auflösung von Sub-Mikrometern ermöglicht. Es verwendet auch einen In-Column-Energiefilter, der eine Feinabstimmung der Abbildungsparameter ermöglicht. Das Gerät verfügt außerdem über eine Hochspannungsversorgung mit einer Genauigkeit von 0,01 Volt, die eine präzise und genaue Abbildung ermöglicht. HITACHI S-3000 N ist in der Lage, sowohl Standard- als auch Variable-Druck-Proben zu betrachten. Hochempfindliche sekundäre Elektronenbild- und Rückstreuelektronen ermöglichen die Beobachtung verschiedener Merkmale auf Probenoberflächen. Darüber hinaus ist das Gerät mit anderen bildgebenden Systemen synchronisiert, so dass eine korrelative Recherche durchgeführt werden kann. Das Gerät ist mit einem Röntgenanalysator ausgestattet und die Ergebnisse können über einen automatisierten Optimierungsalgorithmus analysiert werden. Dies ermöglicht eine qualitativ hochwertige SEM-Bildgebung und Probenanalyse. Darüber hinaus verfügt das Mikroskop über eine automatische Bühnensteuerung und eine automatisierte Kantenerkennung, die eine konsistente und wiederholbare Bildgebung ermöglicht. Das Gerät umfasst einen automatisierten Parameteroptimierungsprozess, der eine Feinabstimmung der Abbildungsparameter ermöglicht. Darüber hinaus ist das Gerät mit einer Partikelgrößenanalysesoftware integriert, die eine schnelle und effiziente Messung und Analyse von Merkmalen an einer Probe ermöglicht. Insgesamt ist S 3000 N ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für die Materialforschung und -analyse entwickelt wurde. Die hochmoderne Optik- und Energiefiltermaschine, die automatisierte Parameteroptimierung und die genaue Röntgenanalyse machen dieses Gerät zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Erforschung einer Vielzahl von Proben.
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