Gebraucht HITACHI S-3000N #9307468 zu verkaufen

ID: 9307468
Weinlese: 2003
Scanning Electron Microscope (SEM) (2) Rotary pumps Magnification: 5x to 300,000x Operating system: Windows 2000 Stage: X-Axis: 80 mm Y-Axis: 40 mm Z-Axis: 5 - 35 mm T: -20° to 90° R: 360° 2003 vintage.
Das HITACHI S-3000N Rasterelektronenmikroskop (SEM) bietet eine hervorragende Bildgebungsleistung sowohl im Niedrig- als auch im Hochvakuum-Modus. Es verfügt über eine hochgenaue und hochauflösende Schottky-Feldemissionskanone (FEG) -Elektronenquelle, eine Hochgeschwindigkeits-Probenabtastung und -bildgebung sowie eine branchenführende Sammlung fortschrittlicher Detektor- und Probenstufensysteme. All diese Funktionen, kombiniert mit einer benutzerfreundlichen und intuitiven Benutzeroberfläche, machen HITACHI S-3000 N zu einer hochmodernen Lösung für alle SEM-basierten Anforderungen an Bildgebung, Analyse und Forschung. S 3000 N verfügt über eine 5kV/15kV/30kV Schottky FEG-Elektronenquelle, die für ihre hochgenaue, hochauflösende Bildaufnahme bekannt ist. Seine hohe Effizienz und räumliche Auflösung sind ideal für die Abbildung von metallischen und nichtmetallischen Proben. Darüber hinaus ermöglicht es Benutzern, zwischen niedrigen, mittleren und Hochvakuum-Betriebsmodi zu wechseln, um die Strahl- und Bildqualität innerhalb einer Vielzahl von Probenbedingungen zu optimieren. Für die Scan- und Bildgebungsgeschwindigkeit ist S-3000N mit einer ultrapräzisen Probenstufe mit automatischer Driftkompensation und einer Vielzahl von Ausrichtungs- und Bildgebungsoptionen ausgestattet. So können Beispielscans und Bilder schnell und präzise erfasst werden. Darüber hinaus können Probenstufensysteme konfiguriert werden, um eine Vielzahl von Funktionen wie Neigung, Rotation und Rasterelektronenbeugung für eine vollständige Palette von SEM-basierten Forschungen auszuführen. In Bezug auf Bilderfassung und -analyse verfügt HITACHI S 3000 N über eine umfassende Auswahl an digitalen Detektoren, darunter einen Backscattered Electron (BSE) Detektor und einen Secondary Electron Detector (SED). Diese bieten Anwendern die Möglichkeit, eine breite Palette von Merkmalen wie Oberflächentopographie, Zusammensetzung, Phasenkontrast und EDX-Spektren (Energy Dispersive X-Ray) zu erkennen und zu analysieren. Darüber hinaus ermöglicht das in der Säule angeordnete TV-Kamerasystem sowohl die Live-Betrachtung als auch die Aufzeichnung der zeitlichen Entwicklung von Proben. Schließlich sorgt die benutzerfreundliche und intuitive grafische Benutzeroberfläche von S-3000 N für eine effiziente Bedienung auf allen Ebenen. Es bietet eine bequeme Steuerung der Scan- und Bildgebungsparameter sowie die Möglichkeit, häufig verwendete Scansequenzen einfach zu speichern und abzurufen. Dieses vielseitig einsetzbare Instrument ist die ideale Wahl für Labore jeder Größe und für ein breites Anwendungsspektrum.
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