Gebraucht HITACHI S-3000N #9312349 zu verkaufen

HITACHI S-3000N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Analyse von Oberflächen- und oberflächennahen Merkmalen fester Proben. Es ist in der Lage, Vergrößerungen bis zu 300.000x zu erreichen, so dass es ideal für eine breite Palette von Anwendungen wie Halbleiterforschung, Materialwissenschaft und Fehleranalyse. Mit einer Probenkammer mit einem Durchmesser von 80 mm kann sie Proben mit einer Höhe von bis zu 70 mm aufnehmen. HITACHI S-3000 N produziert dank seiner einzigartigen aberrationskorrigierten ultrahochauflösenden Schottky-Elektronenpistole hochwertige Bilder. Es verfügt auch über eine drehbare und kippbare Bühne für eine schnelle und einfache Positionierung der Probe für eine optimale Bildgebung. Darüber hinaus ermöglichen seine aberrationskorrigierte Feldemissionssäule und die Hochspannungsversorgung eine präzise Strahlmanipulation auch bei hohen Vergrößerungen. Daraus resultieren sehr detaillierte und äußerst präzise Bilder. S 3000 N ist auch mit einer Reihe fortschrittlicher Bildverarbeitungs- und Analysewerkzeuge ausgestattet. Dazu gehören eine Reihe automatisierter Messungen wie Linien- und Formanalyse, topographische Rekonstruktion, stereologische Analyse und Partikeldimensionierung. Mit dem Sensor-Mix-Verfahren können Anwender auch eine Reihe von Elementaranalysen durchführen. Darüber hinaus kann sein intelligenter Bildgebungsalgorithmus leichte Probenbewegungen kompensieren, sodass Benutzer genaue, wiederholbare Ergebnisse erzielen können. S-3000N verfügt auch über eine beeindruckende Suite von Bedienungs- und Sicherheitsfunktionen. Es verfügt über eine integrierte Touchscreen-Schnittstelle und einfache Fingerspitzenbedienungen, so dass Benutzer das Mikroskop effizient bedienen und steuern können. S-3000 N wird auch in einer abgedichteten Vakuumumgebung betrieben, um eine optimale Leistung und einen optimalen Schutz der Probe zu gewährleisten. Es hat auch eine Reihe von Sicherheitsmerkmalen, wie ein Sicherheitstürschalter und Not-Aus-Schalter, um Benutzer vor versehentlicher Exposition gegenüber dem Elektronenstrahl zu schützen. Insgesamt ist HITACHI S 3000 N ein leistungsstarkes, hochfähiges Rasterelektronenmikroskop. Es verfügt über das neueste Design, Engineering und Funktionen und bietet Anwendern hervorragende Bildqualität, Präzisionskontrolle und erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen. Es ist ein ideales Werkzeug für eine Reihe von Anwendungen, von der Grundlagenforschung bis zur Fehleranalyse.