Gebraucht HITACHI S-3000N #9401346 zu verkaufen

ID: 9401346
Weinlese: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM) 2008 vintage.
HITACHI S-3000N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das modernste bildgebende Technologie mit benutzerfreundlicher Bedienung für ein leistungsstarkes Mikroskop kombiniert, das ideal für eine Vielzahl von Anwendungen ist. Mit einer hohen Auflösung von 1,5 nm und maximalen Vergrößerungen von bis zu 300 000 x bietet HITACHI S-3000 N beispiellose Bilder von Proben aus Bereichen wie Biologie, Materialtechnik und Halbleiterfehleranalyse. Durch die Verwendung eines erweiterten Arrays von bildgebender Hardware, einschließlich des Everhart-Thornley (ET) Detektors und eines Elektrometers, ist S 3000 N in der Lage, hochgenaue Bilder mit einer noch höheren Geschwindigkeit als frühere Modelle zu erfassen. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten bietet S-3000 N eine Vielzahl von Bedienungsfunktionen. Die mitgelieferte automatisierte Probenvorbereitungsstufe trägt dazu bei, dass Proben vor der Bilderfassung korrekt positioniert und fokussiert sind und bietet eine breite Palette von Probenausrichtungseinstellungen, einschließlich automatisierter Verschiebung und einer Vielzahl motorisierter Scanparameter. Das Mikroskop ist zudem mit der neuesten ASE-Technologie (Automatic Sample Exchange) ausgestattet, mit der hochgenaue Proben schnell und einfach ausgetauscht werden können. Darüber hinaus ist S-3000N in der Lage, mehrere Aufgaben in Reihenfolge durchzuführen, was eine effiziente und schnelle Bildgebung für alle Arten von Experimenten ermöglicht. Die intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht es sowohl Anfängern als auch fachkundigen Anwendern, sich schnell mit der Bedienung von HITACHI S 3000 N vertraut zu machen. Mit seiner einfach zu bedienenden Software kann die Bedienung des Mikroskops auf die Vorlieben des Anwenders zugeschnitten werden. Sein großer, hochauflösender Monitor bietet eine konkurrenzlose Sicht auf die Elektronenbilder, während eine Vielzahl von Fernbedienungsoptionen weitere Flexibilität ermöglichen. Alle diese Funktionen arbeiten zusammen, um HITACHI S-3000N Rasterelektronenmikroskop zu einem leistungsstarken bildgebenden und analytischen Gerät für eine Vielzahl von Anwendungen zu machen. Mit seinen hochauflösenden und schnellen Scanfunktionen ist HITACHI S-3000 N in der Lage, Bilder höchster Qualität für forensische Analysen, Material- und Komponentenausfallstudien und industrielle Forschung bereitzustellen.
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