Gebraucht HITACHI S-3200 #9243691 zu verkaufen

HITACHI S-3200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Abbildung von Proben bei hohen Vergrößerungen. Mit einer maximalen Auflösung von 1,5 Nanometern ist dieses SEM in der Lage, nanoskalige Merkmale zu beobachten. Sein Beobachtungsbereich kann bis zu 200,000X Vergrößerung erweitert werden. S-3200 ist mit rückgestreuten und sekundären Elektronendetektoren (BSD und SED) ausgestattet, um Bilder von leichten und schweren Elementen in der Probe zu erfassen. Die BSD- und SED-Systeme sind mit einem patentierten Niedertemperaturfilament kombiniert, mit dem das Mikroskop Niedervakuumsignale erfassen kann. Diese verbesserte Signalqualität und verbesserte eingebaute Messfunktionen ermöglichen eine schnelle Messung der Probenmaße ohne manuelle Stufenanpassungen. HITACHI S-3200 verfügt außerdem über eine effiziente elektronenoptische Spalte, die eine Probe bei hoher Vergrößerung präzise abbilden soll. Unter Verwendung eines mehrstufigen optischen Kondensatorsystems, bestehend aus Querlenkern und Elektroden, passt es die Strahlform an die Probe an. Darüber hinaus wurde ein Magnetfeld in dieses System integriert, um Aberrationen der Elektronenstrahlen zu beseitigen und eine Bildgebung höherer Auflösung zu erreichen. Das Design von S-3200 umfasst zwei Ziele, die eine umfassende Bildgebung ermöglichen. Das erste Ziel ist ein Top-View-Ziel für die Flächeninspektion. Es bietet eine größere Fokustiefe und eine verbesserte Auflösung, die eine Top-Down und Winkelbildgebung ermöglicht. Das zweite Objektiv ist ein zweistrahliges BSD-Objektiv, das für zweistrahlige Abbildungen und erhöhte Signallücken ausgelegt ist. HITACHI S-3200 verwendet außerdem ein Low Drift Stage Design, um Schütteln und Vibrationen während der Beobachtung zu minimieren. Diese Konstruktion nutzt ein pneumatisches Element und einen temperaturgesteuerten Luftstrom, um die Probe während der Beobachtungen stabil zu halten. S-3200 arbeitet unter verschiedensten Umgebungsbedingungen. Seine Auto-Tune-Funktion kann sich schnell an unterschiedliche Temperaturen/Luftfeuchtigkeitsstufen anpassen und gewährleistet jederzeit einen genauen Betrieb. HITACHI S-3200 verfügt auch über einen vorhandenen Stufeneinstellungsalgorithmus, um bei Bedarf schnell zwischen Arbeitsumgebungen umzuschalten. Darüber hinaus bietet S-3200 erweiterte Datenerfassungs- und Analysefunktionen. Es unterstützt schnelle Bilderfassung, Automatisierung und verfügt über ein intuitives Bildverwaltungssystem. Es verfügt auch über Funktionen zur 3D-Automatisierung und Bildmanipulation, wodurch es einfacher ist, nanoskalige Beispielfunktionen zu überprüfen. Insgesamt ist HITACHI S-3200 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das für die Abbildung von Proben bei hohen Vergrößerungen entwickelt wurde. Es bietet eine breite Palette von Bildgebungsfunktionen, einschließlich rückgestreuter und sekundärer Elektronendetektoren, Low Drift-Stage-Design und erweiterte Datenerfassung und -analyse. Darüber hinaus ermöglichen S-3200 Auto-Tune- und Stage-Setting-Algorithmen einen extrem stabilen Betrieb unter verschiedenen Umgebungsbedingungen. Damit ist HITACHI S-3200 eine ideale Wahl für nanoskalige bildgebende Anwendungen.