Gebraucht HITACHI S-3200H #152573 zu verkaufen

ID: 152573
Wafergröße: 5"
Scanning Electron Microscope (SEM), 5" Type: W IR Chamber scope STS X-Stream imaging system Resolution: 3nm at 30kV Motorized.
HITACHI S-3200H ist ein Top-Bereich Rasterelektronenmikroskop, entwickelt für hochpräzise Bildgebung und Messung einer breiten Palette von Proben. Es verfügt über eine große, vier Quadranten Schottky Feld Emissionskanone, die hohe räumliche Auflösung Bildgebung auch bei niedrigen Beschleunigungsspannungen. Die Pistole hat ein geringeres Rauschdesign integriert, wodurch Hintergrundrauschen reduziert wird, um ein klares Bild im Mikrodiagramm zu erhalten. Das Mikroskop ist aufgrund seiner Wahl der Abbildungsmodi wie Sekundärelektronenbildgebung und Rückstreuelektronenbildgebung (BSE) für viele Anwendungen vielseitig einsetzbar. Die Sekundärelektronenbildgebung verwendet einen Detektor, um Elektronen zu sammeln, die durch die Primärelektronen, die zur Anregung der Probe verwendet werden, von der Probenoberfläche ausgestoßen werden. In diesem Modus werden Flächen-KEs im Detail angezeigt. BSE ermöglicht es dem Anwender, die Topographie der Probe zu sehen, da energiereichere Elektronen in die Probe eindringen und mit Atomkernen interagieren, die Hinweise auf die Zusammensetzung der Probe geben. S-3200H nutzt eine parallele Pistole und Detektorgehäuse mit drei Arten von Detektor zur Verfügung, um die ultimative Vielseitigkeit zu bieten. Detektoren umfassen einen Kleinfleckdetektor, einen abtastenden Transmissionsdetektor und einen seitlichen Streudetektor. Die Pistolensäule verfügt auch über die neueste aktuelle Kompensationstechnologie, die Rauschen aus dem Elektronenstrahl reduziert und die Klarheit des Bildes erhöht. Außerdem bietet HITACHI S-3200H dank seines Energy Dispersive X-Ray Spectrometer (EDX) Detektors einzigartige analytische Möglichkeiten zur Unterstützung der Probenanalyse. Dieses Gerät ermöglicht die Sammlung und Analyse von in der Probe erzeugten Röntgensignalen, wenn Primärelektronen mit der Probe interagieren. Es ermöglicht dem Anwender, eine tiefere Ebene von Probeninformationen zu erreichen und eine ausgeklügelte chemische Analyse seiner Probe vorzunehmen. Schließlich sind Probenhalter verfügbar, um eine Vielzahl von Probentypen anzupassen, und der Benutzer kann eine der 3 optischen Stufen auswählen, um ihre Probengröße am besten anzupassen. Die Probentischhöhe kann zwischen der Pistole und der Probe eingestellt werden, um ein flaches Blickfeld zu schaffen und sicherzustellen, dass klare und genaue Bilder erzielt werden. Abschließend ist S-3200H ein leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug zur Bildgebung und Analyse, das hochauflösende Bilder sowie chemische Analysen für eine breite Palette von Proben bereitstellt.
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