Gebraucht HITACHI S-3200H #9005308 zu verkaufen

HITACHI S-3200H
ID: 9005308
Sanning electron microscope.
HITACHI S-3200H ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für allgemeine analytische Zwecke. Es bietet hochauflösende Bildgebung, ausgezeichneten Probendurchsatz und erweiterte analytische Fähigkeiten. S-3200H ist mit einer 3-axialen Waffenausrüstung ausgestattet, die die Erfassung von Bildern im kristallographischen (Ausrichtung bis < 001 >) oder STEM-Modus (Ausrichtung bis < 111 >) ermöglicht, ohne die Ausrichtung der Elektronenkanone ändern zu müssen. Es ist auch mit einer Feldemissionskanone (FEG) für kontrastreiche Bilder und aberrationskorrigierte STEM-HAADF-Bildgebung ausgestattet. Das System bietet hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Spannungen (von 1 bis 30 kV) und schnelle Scanraten (bis zu 15.000 Pixel/s). HITACHI S-3200H zeigt fortgeschrittene Entdeckersysteme sowohl einschließlich einer sekundären Elektronbildaufbereitungseinheit in der Linse, die für die mit hoher ultraauflösung Bildaufbereitung, als auch einschließlich einer Elektronrückstreuungsbeugung (EBSD) Maschine entworfen ist, die für die quantitative Analyse der crystallographic Ausrichtung von Partikeln und dünnen Filmen verwendet wird. Die Detektoren des Werkzeugs, kombiniert mit seiner eingebauten Rechenfähigkeit, ermöglichen fortschrittliche Analysetechniken wie automatisierte EBSD-Kartierung und Elektronentomographie. S-3200H ist auch mit einer energiedispersiven Röntgenspektrometrie (EDS) für die Elementaranalyse und einem Kathodolumineszenzmodell (CL) für die Analyse von lumineszierenden Materialien ausgestattet. Das EDS-Gerät ist in der Lage, Elemente bis zum Bor aus dem Periodensystem zu analysieren, während das CL-System für Lichtemissionen von Materialien wie ZnS und Leuchtstoffen empfindlich ist. HITACHI S-3200H verfügt zudem über eine Reihe benutzerfreundlicher und intuitiver Softwareschnittstellen, die die Bedienung optimieren und die Datenanalyse erleichtern sollen. Dieses Gerät ist auch voll kompatibel mit anderen Softwareplattformen, wie AutoSEM und CrossBeam. Schließlich bietet S-3200H in ergonomischer, platzsparender Bauweise erstklassige Musterverarbeitungsfunktionen. Benutzer können je nach den Anforderungen der Anwendung Muster von oben oder unten beleuchten. Die Maschine ist auch für eine breite Palette von Probenhaltern ausgelegt, die einen einfachen Transfer von Proben zwischen Systemen oder Laboren ermöglichen.
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