Gebraucht HITACHI S-3200N #293769423 zu verkaufen

HITACHI S-3200N ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um detaillierte, hochauflösende Bilder von feinen Strukturen, Oberflächen und Materialien zu liefern. Das Mikroskop verwendet die modernsten Bildgebungs- und Manipulationstechnologien, um die beste Bildqualität und Vielseitigkeit zu bieten. HITACHI S 3200 N ist für kleine und große Partikel ausgelegt. Es verfügt über mehrere Scanstufen, mit denen sowohl große als auch kleine Funktionen analysiert werden können. Das Mikroskop verfügt über eine große Probenkammer, die einen erweiterten Sichtbereich von großen bis zu kleinen einfachen oder komplexen Proben und eine maximale Probengröße von 25 mm ermöglicht. Das Mikroskop hat auch cryo-stage Option für die Probenanalyse bei Temperaturen unter der Umgebung. S-3200N verfügt über Feldemissionselektronenpistole mit Ladungsneutralisationstechnologie zur Beseitigung von Ladungsartefakten. Dieses Merkmal bietet einen verbesserten Kontrast von nichtleitenden Proben und eine höhere Vergrößerung von niedrigen kV-Anwendungen. Darüber hinaus minimiert die Ladungsneutralisationstechnologie auch die Elektronenstrahlstörung der Probe, was zu einer wesentlich verbesserten Stabilität und Wiederholbarkeit führt. Die Vergrößerungen des Mikroskops reichen von 5x bis 500.000x und ermöglichen eine detaillierte Analyse von Nanoproben. Das Mikroskop verfügt zudem über eine digitale Bildgebung mit einer integrierten CCD-Kamera (1,4 MP), mit der Wissenschaftler Proben in Echtzeit betrachten können. Die integrierte Bildverarbeitungssoftware hilft dabei, neue Funktionen in den Bildern schnell zu erkennen und zu analysieren. S 3200 N ist sowohl für den Hoch- als auch für den Niedrigvakuumbetrieb geeignet. Der Niedervakuummodus wird bei der Analyse nichtleitender Proben verwendet. Es hilft bei der Reduzierung der Aufladung von nichtleitenden Materialien und bessere Auflösung zu erreichen. HITACHI S-3200N verfügt auch über ein breites Sortiment an Zubehör wie EDS-Detektor, Röntgenmapping, Ionenfräsen, Heizstufe und zusätzliche Detektoren für erweiterte Bildgebungsfunktionen. HITACHI S 3200 N wurde entwickelt, um eine leistungsstarke Analyse und außergewöhnliche Bildqualität in anspruchsvollen Anwendungen bereitzustellen. Seine Vielfalt an Scanmodi und bildgebenden Technologien machen es zu einem idealen Mikroskop für Materialwissenschaften, Life Sciences, Halbleiter- und Oberflächenforschung. Darüber hinaus ist die benutzerfreundliche Oberfläche in Verbindung mit einer großen Probenkammer ein ideales Instrument für Labore jeder Größe.