Gebraucht HITACHI S-3200N #9208242 zu verkaufen

HITACHI S-3200N ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) zur Sondierung der Mikro- und Nanostrukturen verschiedener Materialien. Es verfügt über eine fortschrittliche, digitale Scanausrüstung, die über eine integrierte Stufe und einen hochauflösenden Detektor verfügt, was zu einem hohen Bildkontrast, verbesserten Bildauflösungen und einer größeren Schärfentiefe führt. HITACHI S 3200 N beinhaltet ein Hochdurchsatz-Autostufen-System für automatisierte wiederholbare Probenmontage und Stufenscannung. Eine Vielfalt von fortgeschrittenen Bildaufbereitungstechniken kann mit dem Mikroskop einschließlich der hohen sekundären Elektronkontrastbildaufbereitung (SEI), Rückstreuungselektron verwendet werden, das (BSEI) und analytische Abtastung, einschließlich des Elektrons dispersive Spektrometrie oder Energie dispersive Spektrometrie (EDS) darstellt. S-3200N ermöglicht es Benutzern, hochauflösende Bilder mit einer Vielzahl von Objektiven, von 0,5 bis 1.000.000x Vergrößerung, und einem Arbeitsabstand zwischen 0-10mm zu nehmen. Die Linsenkalibriereinheit von S 3200 N sorgt dafür, dass diese Bilder wahr und genau sind. HITACHI S-3200N verfügt über eine Reihe von Scansteuerungsfunktionen, mit denen Benutzer die wesentlichen SEM-Parameter anpassen können, um die Bilderfassung zu optimieren. Mit einem automatisierten Kalibrierverfahren wird sichergestellt, dass das Vakuum optimal arbeitet. Das Mikroskop verfügt über eine Geräuschunterdrückungsmaschine und eine dynamische Filtertechnologie, die das Ausmaß von Störgeräuschen verringert. Das Stage Control Tool von HITACHI S 3200 N ermöglicht eine automatisierte Navigation mit wiederholbarer Präzision in den x, y, z Achsen in Nanometerschritten. Die Stufe hat auch eine Neigungs- und Drehfunktion, die eine präzise Probenpositionierung in der x- und y-Achse und eine rotatorische Probenpositionierung für die Oberflächenbildgebung ermöglicht. S-3200N enthält auch eine automatische Zählfunktion, die Partikel in einem benutzerdefinierten Bereich und einer Probe genau zählen kann. Dies hilft bei der Analyse der Partikelverteilung in der Probe und hilft beim Verständnis der Partikelgrößenverteilung und Porosität. S 3200 N kann mehrere Bilder von einer Probe automatisch aufnehmen. Diese Funktion kann verwendet werden, um Oberflächenänderungen im Laufe der Zeit zu überwachen oder ein komplettes 3D-Bild der Probenoberfläche zu erzeugen. Das Mikroskop kann auch zur Bildverarbeitung, Analyse und Daten-/Ergebnisverteilung an einen PC angeschlossen werden. HITACHI S-3200N wird für die hohe Leistung entworfen, Elektronmikroskopie und vorgebrachte Angebote scannend, Fähigkeiten auf einer Vielfalt von Materialien und Proben darstellend. Mit einer eingebauten Stufe und automatisierten Systemen ist HITACHI S 3200 N eine ideale Wahl für präzise Nanowissenschaftsforschung.