Gebraucht HITACHI S-3400N Type II #293604796 zu verkaufen

HITACHI S-3400N Type II Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes, multidisziplinäres Werkzeug, das den Anforderungen unterschiedlichster Forschungs- und Industrieanwendungen gerecht wird. Mit einer breiten Palette von Bildgebungs- und Analysefunktionen bietet S-3400N Typ II eine verbesserte Bildgebungsleistung und eine überlegene Flexibilität, was es zu einem wertvollen Kapital für diejenigen macht, die hochauflösende Bildgebung für ihre Forschungs- und Industrieexperimente benötigen. HITACHI S-3400N Type II SEM ist ein Hochvakuum-Sekundärelektronendetektor mit einer einzigartigen digitalen Bildgebungs- und Analyseausrüstung. Es verwendet einen In-Linsen-Doppelfeldkondensator, einen energiedispersiven Röntgendetektor und eine fünfachsige Stufe. Dieses System ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung in einer Vielzahl von Materialien, darunter Metalle, Keramik, Halbleiter und andere Materialien. S-3400N Typ II SEM hat einen hohen Vergrößerungsbereich von bis zu 7,2 Millionen x, so dass der Benutzer kleine Details klar und genau sehen kann. Die Vier-Elemente-Objektivlinse bietet eine hochauflösende Abbildung von kleinen Partikeln und Proben mit einem breiten Sichtfeld. Der hochauflösende Bild- und Scanbereich von HITACHI S-3400N Type II SEM verfügt über eine 3D-Mapping-Einheit, die eine breite Palette automatisierter Analysefunktionen bietet. Seine 3D-Kartiermaschine ist in der Lage, Bilder aus mehreren Winkeln zu erfassen und die Mikrostruktur einer Probe zu messen. S-3400N SEM Typ II verfügt über eine Vielzahl von Automatisierungsfunktionen wie Autofokus und automatische Abschreckung, die seine Effizienz und Produktivität verbessern. Die automatische Fokussierung und die automatische Abschreckfunktion ermöglichen eine automatisierte Probeninspektion, Analyse und Bildgebung. HITACHI S-3400N Type II verfügt zudem über ein Kollisionsschutzwerkzeug für Proben. Es kann potenzielle Kollisionen erkennen und empfindliche Probenoberflächen vor möglichen Schäden schützen. S-3400N Rasterelektronenmikroskop Typ II ist ein vielseitiges und zuverlässiges Analysewerkzeug, das für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen eingesetzt werden kann. Seine erweiterten Bildgebungs- und Analysefunktionen, sein breites Spektrum an Vergrößerungen und seine umfassenden Automatisierungsfunktionen machen es zu einer idealen Wahl für Benutzer, die ein Hochleistungsinstrument suchen. Mit seiner verbesserten Bildauflösung und Flexibilität ist HITACHI S-3400N Type II SEM unverzichtbar für alle, die ein Hochleistungs-Bildgebungsgerät mit hervorragenden Fähigkeiten benötigen.