Gebraucht HITACHI S-3400N Type II #293799289 zu verkaufen

HITACHI S-3400N ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für den Einsatz in einer Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen entwickelt wurde. Das Gerät verfügt über eine hochauflösende Feldemissionskanone (FEG) mit einer bildgebenden Auflösung von 0,8 nm und einer hohen Punkt-zu-Punkt-Auflösung von 0,17 nm. Dieses Tool bietet hervorragende bildgebende und analytische Fähigkeiten, so dass Benutzer Partikel, kristalline Strukturen, Mikroorganismen und andere kleine Objekte effektiv beobachten können. HITACHI S-3400 N ist mit einer automatisierten Wafer- und Maskenmappingfunktion ausgestattet, die die automatische Ausrichtung von Probenoberflächen wie Halbleiterscheiben ermöglicht. Diese Automatisierung ermöglicht eine schnelle und präzise Analyse von integrierten Schaltungsstrukturen und Photomasken und erhöht die Effizienz des Abbildungsprozesses erheblich. Sobald eine Probe ausgerichtet ist, bietet S 3400 N 5 nm filterfreie Bildgebungs- und Videorate-Bildgebungsgeschwindigkeiten bis 10 Hz. Darüber hinaus bietet das Instrument ein integriertes Scan- und Spektroskopie-Subsystem, das sowohl bildgebende als auch Spektrometeranalysen gleichzeitig ermöglicht. Diese kombinierte Scan- und Bildgebungsfähigkeit ist ideal für Anwender, die beides benötigen, um Probenzusammensetzung, Struktur und Eigenschaften zu bewerten. Ein integrierter Cs-korrigierter Sekundärelektronendetektor und ein Rückstreuelektronendetektor sind ebenfalls enthalten, was eine überlegene Abbildungsleistung in einer Vielzahl von Abbildungsmodi ermöglicht. Darüber hinaus enthält S-3400 N ein fortschrittliches energiedispersives Röntgen- (EDX) Spektrometriesystem, das eine quantitative Elementaranalyse mit einer Genauigkeit von 0,1% ermöglicht. Die Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien und Strukturen kann durch Analyse der mit abgelenkten Röntgenpartikeln verbundenen Energie abgeschlossen werden. Das Gerät soll Anwendern höchste Präzision und Kontrolle über die Atmosphäre der Probe während der Analyse bieten, wodurch die Datenqualität verbessert wird. Die Kombination eines Elektronenstrahls, eines EDX-Detektors und eines Umweltkontrollsystems ermöglicht es Anwendern, Probeneigenschaften genauer zu messen und zu analysieren. Insgesamt macht HITACHI S 3400 N durch die Kombination ausgeklügelter analytischer Fähigkeiten und außergewöhnlicher bildgebender Leistung zu einem leistungsstarken Rasterelektronenmikroskop für den Einsatz in Forschungs- und Industrielaboren. Seine überlegene Leistung und überlegene Dynamik ermöglichen es Benutzern, eine Vielzahl von Objekten genau und effektiv zu beobachten und zu analysieren und gleichzeitig eine außergewöhnliche Auflösung und Genauigkeit zu bieten.